[发明专利]测试磁记录介质的方法以及包括测试步骤的制造磁记录介质的方法

权利要求书

1.一种通过使用具有热敏元件的测试头来测试磁记录介质以得到表面特性的方法，所述磁记录介质在非磁性基底上设置有至少磁性层，所述方法包括以下步骤：

用具有热敏元件的测试头扫描所述磁记录介质的表面；

从由所述测试头发射的信号中分离出源于所述磁记录介质的所述表面上的凸脊的低频信号；以及

从在所述分离步骤之后保留的高频信号中检测出在所述磁记录介质的所述表面上的突起。

2.根据权利要求1的测试磁记录介质的方法，其中所述低频信号具有40μm以上的波长。

3.一种通过使用具有热敏元件的测试头来测试磁记录介质以得到表面特性的方法，所述磁记录介质在非磁性基底上设置有至少磁性层，所述方法包括以下步骤：

用具有热敏元件的测试头扫描所述磁记录介质的表面；

从由所述测试头发射的信号中分离出源于除了凸脊之外的因素的低频信号；以及

从在所述分离步骤之后保留的高频信号中检测出在所述磁记录介质的所述表面上的突起。

4.一种通过使用具有热敏元件的测试头来测试磁记录介质以得到表面特性的方法，所述磁记录介质在非磁性基底上设置有至少磁性层，所述方法包括以下步骤：

用具有热敏元件的测试头扫描所述磁记录介质的表面；

从由所述测试头发射的信号中分离出源于所述磁记录介质的所述表面上的凸脊的低频信号或者源于除了所述凸脊之外的因素的低频信号；

从在所述分离步骤之后保留的高频信号中检测出在所述磁记录介质的所述表面上的突起；以及

除去作为不合格品的包含具有规定高度的突起的磁记录介质。

5.一种通过使用具有热敏元件的测试头来测试磁记录介质以得到表面特性的方法，所述磁记录介质在非磁性基底上设置有至少磁性层，所述方法包括以下步骤：

用具有热敏元件的测试头扫描所述磁记录介质的表面；

从由所述测试头发射的信号中分离出源于与所述磁记录介质的所述表面相撞的物品的碰撞的信号或者高频信号；

从在所述分离步骤之后保留的低频信号中检测出在所述磁记录介质的所述表面上的凸脊；以及

除去作为不合格品的包含超过规定水平的凸脊的磁记录介质。

6.根据权利要求1的测试磁记录介质的方法，使用带通滤波器或高通滤波器执行所述分离步骤和检测步骤。

7.根据权利要求3的测试磁记录介质的方法，使用带通滤波器或高通滤波器执行所述分离步骤和检测步骤。

8.根据权利要求5的测试磁记录介质的方法，使用带通滤波器或低通滤波器执行所述分离步骤和检测步骤。

9.一种制造磁记录介质的方法，所述磁记录介质在非磁性基底上设置有至少磁性层，其中所述方法包括根据权利要求1的测试方法。