[发明专利]用于影响和/或检测作用区域中的磁性粒子的设备和方法

权利要求书

1.一种用于影响和/或检测作用区域(300)中的磁性粒子(100)的设 备，所述设备包括：

-选择装置(210)，用于产生选择磁场(211)，所述选择磁场(211) 的磁场强度具有一空间模式，从而使得在所述作用区域(300)中形成具有 低磁场强度的第一子区(301)和具有较高磁场强度的第二子区(302)，

-驱动装置(220)，用于借助于驱动磁场(221)来改变在所述作用 区域(300)中所述第一子区(301)和所述第二子区(302)的空间位置， 以使得所述磁性粒子(100)的磁化强度局部地变化，

-接收装置(230)，用于采集信号，该信号取决于所述作用区域(300) 中的磁化强度，该磁化强度受到所述第一子区(301)和所述第二子区(302) 的空间位置的所述改变的影响，

其中，所述选择装置(210)和/或所述驱动装置(220)和/或所述接收 装置(230)至少部分地包括李兹线/绞合线(250)，

其中，采用与所述驱动磁场(221)变化的频带不同的另一频带从位于 所述第一子区(301)中的磁性粒子(100)检测信号。

2.如权利要求1所述的设备(10)，其中，所述李兹线(250)包括多 个单股线(255)，每一个单股线都由高电阻材料(256)围绕。

3.如权利要求2所述的设备(10)，其中，所述李兹线(250)包括多 条第一级李兹线(251)，所述第一级李兹线(251)包括多条单股线(255)。

4.如权利要求2所述的设备(10)，其中，所述李兹线(250)包括多 条第一级李兹线(251)和多条第二级李兹线(252)，其中，所述第一级李 兹线(251)包括多条单股线(255)，其中，所述第二级李兹线(252)包 括多条第一级李兹线(251)，并且其中，所述李兹线(250)包括多条第二 级李兹线(252)。

5.如权利要求1所述的设备(10)，其中，所述接收装置(230)的电 阻由热噪声支配。

6.如权利要求1所述的设备(10)，其中，所述接收装置(230)的电 阻由在所述作用区域(300)中的热噪声产生。

7.如权利要求1所述的设备(10)，其中，所述李兹线(250)至少部 分地包括铁磁材料。

8.如权利要求1所述的设备(10)，其中，所述李兹线(250)至少部 分地用于所述选择装置(210)和/或所述驱动装置(220)，并且其中，所述 选择装置(210)的李兹线(250)至少部分地被所述驱动装置(220)的所 述驱动磁场(221)穿透，并且/或者其中，所述驱动装置(220)的李兹线 (250)至少部分地被所述选择装置(210)的所述选择磁场(211)穿透。

9.如权利要求1或8所述的设备(10)，其中，所述李兹线(250)被 布置为，使得在指定工作频带中且在穿透所述李兹线(250)的指定电磁场 中，电阻是最小的。

10.如权利要求1或8所述的设备(10)，其中，所述李兹线(250) 的各条单股线(255)的总横截面积相对于所述李兹线(250)的横截面积 的比值为0.30到0.70，或者其中，所述李兹线(250)的各条单股线(255) 的总横截面积相对于所述李兹线(250)的横截面积的比值为0.01到0.20。

11.如权利要求10所述的设备(10)，其中，所述李兹线(250)的各 条单股线(255)的总横截面积相对于所述李兹线(250)的横截面积的比 值为：0.40到0.60、或0.03到0.10。

12.如权利要求10所述的设备(10)，其中，所述李兹线(250)的各 条单股线(255)的总横截面积相对于所述李兹线(250)的横截面积的比 值为0.5。

13.如权利要求1或8所述的设备(10)，其中，所述李兹线(250) 的单股线(255)的直径为1μm到50μm。