[发明专利]自由立体显示器设备以及利用这种显示器设备的系统有效
申请号: | 200780047217.6 | 申请日: | 2007-12-12 |
公开(公告)号: | CN101568873A | 公开(公告)日: | 2009-10-28 |
发明(设计)人: | M·P·C·M·克里恩;P·P·E·穆威森;H·朱伊德马;W·L·伊泽曼;S·T·德兹沃特;O·H·威廉森 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | G02B27/22 | 分类号: | G02B27/22;G02B27/26;G03B35/22;H04N13/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 李静岚;刘 红 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自由 立体 显示器 设备 以及 利用 这种 系统 | ||
1.一种自由立体显示器设备,其包括:
用于反射入射光的至少一部分的反射层;
设置在所述反射层之上的偏振转换层;以及
设置在所述偏振转换层的至少一部分之上并且包括双折射材料 的透镜元件阵列,
其中,具有第一偏振态的光被设置成在不发生透镜元件聚焦的情 况下穿过所述透镜元件阵列,并且其中所述偏振态被所述偏振转换层 变换成使得反射光具有第二偏振态,所述第二偏振态被设置成在发生 透镜元件聚焦的情况下穿过所述透镜元件阵列以便提供多个视图。
2.如权利要求1所述的显示器设备,其中,所述第一偏振态与 所述双折射材料的非常轴正交,并且所述第二偏振态与该非常轴平 行。
3.如权利要求1或2所述的显示器设备,其中,所述偏振转换 层包括四分之一波延迟器。
4.如权利要求1或2所述的显示器设备,其还包括设置在所述 反射层与所述偏振转换层之间的至少部分地透明的漫射层。
5.如权利要求1或2所述的显示器设备,其还包括第二偏振转 换层,该层被设置在所述透镜元件阵列之上并且被适配成把圆偏振入 射光变换成线性偏振光。
6.如权利要求1或2所述的显示器设备,其中,所述透镜元件 阵列包括设置在所述透镜元件之上的透明平面化层。
7.如权利要求6所述的显示器设备,其中,形成所述透镜元件 的材料是双折射的,并且所述平面化层是各向同性的并且其折射率等 于所述透镜元件双折射材料的寻常折射率。
8.如权利要求6所述的显示器设备,其中,形成所述透镜元件 的材料是各向同性的,所述平面化层是双折射的并且该平面化层的其 中一个折射率等于所述透镜元件的折射率。
9.如权利要求1或2所述的显示器设备,其中,可以通过选择 性地施加电场来切换所述双折射材料,从而在2D与3D操作模式之间 切换所述显示器。
10.如权利要求1或2所述的显示器设备,其中,所述双折射材 料的非常轴与所述透镜元件的纵轴平行。
11.一种自由立体显示器系统,其包括:
图像投影仪;以及
根据任一条在前权利要求的自由立体显示器设备,
其中,所述图像投影仪被适配成提供包括具有所述第一偏振态的 光的图像。
12.如权利要求11所述的显示器系统,其中,所述图像投影仪 被设置成投影圆偏振光。
13.如权利要求11或12所述的显示器系统,其还包括用于校正 投影光与所述自由立体显示器设备的几何失准的校准系统。
14.如权利要求13所述的显示器系统,其中,所述校准系统包 括用于检测由所述自由立体显示器设备产生的图像的摄影机。
15.如权利要求14所述的显示器系统,其中,所述校准系统还 包括几何校正单元,其被设置成接收来自所述摄影机的信息并且根据 所接收的信息来修改由所述图像投影仪所投影的光,以便减少投影光 与所述自由立体显示器设备的失准。
16.一种投影3D图像的方法,其包括:
使用投影仪把包括具有第一偏振态的光的图像投影到包括双折 射材料透镜元件阵列的反射器装置上;
作为所述第一偏振态的结果,把所述图像穿过所述双折射材料透 镜元件阵列而不发生实质上的透镜元件聚焦;
反射所述图像并且执行所述图像的光的偏振转换到第二偏振态;
作为所述第二偏振态的结果,把所述图像穿过所述双折射材料透 镜元件阵列时发生透镜元件聚焦,以便把多个视图提供到不同的观看 位置。
17.如权利要求16所述的方法,其还包括通过以下步骤来执行 校准:
把测试模式投影到显示器;
检测由所述显示器响应于所投影的测试模式而产生的图像;
根据所检测到的图像调节所述投影仪的至少一种投影属性。
18.如权利要求17所述的方法,其中,所述检测步骤包括检测 具有周期PM的莫阿模式,并且所述调节步骤包括利用比值(PM±PL)/PM来调节所述投影仪的水平放大率,其中PL是所述显示器内的透镜元件 阵列的间距。
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