[发明专利]免疫色谱试验片的测定装置无效

专利信息
申请号: 200780049127.0 申请日: 2007-12-03
公开(公告)号: CN101578519A 公开(公告)日: 2009-11-11
发明(设计)人: 山内一德 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: G01N33/543 分类号: G01N33/543;G01N21/64;G01N21/78
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 代理人: 龙 淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 免疫 色谱 试验 测定 装置
【权利要求书】:

1.一种免疫色谱试验片的测定装置,其特征在于,具备:

一个或多个光照射部,向免疫色谱试验片照射测定光;

第1光检测部,检测通过向所述免疫色谱试验片上的第1位置照射所述测定光而从所述免疫色谱试验片所获得的光;

第2光检测部,检测通过向所述免疫色谱试验片上的较所述第1位置位于下游侧的第2位置照射所述测定光而从所述免疫色谱试验片所获得的光;以及

控制部,根据来自所述第1及第2光检测部的输出信号,取得从所述第1位置上的光学特性发生变化起至所述第2位置上的光学特性发生变化为止的经过时间。

2.一种免疫色谱试验片的测定装置,其特征在于,

具备:

光照射部,向免疫色谱试验片照射测定光;

光检测部,检测通过所述测定光的照射而从所述免疫色谱试验片所获得的光;

试验片支撑部,支撑所述免疫色谱试验片;

驱动机构,在所述免疫色谱试验片的被检测体流动方向上使所述试验片支撑部与所述光检测部相对地移动;以及

控制部,控制所述驱动机构;

所述控制部使所述试验片支撑部与所述光检测部相对移动以检测来自所述免疫色谱试验片上的第1位置的光之后,使所述试验片支撑部与所述光检测部相对移动以检测来自较所述第1位置位于下游侧的第2位置的光,并根据来自所述光检测部的输出信号取得从所述第1位置上的光学特性发生变化起至所述第2位置上的光学特性发生变化为止的经过时间。

3.一种免疫色谱试验片的测定装置,其特征在于,

具备:

一个或多个光照射部,向免疫色谱试验片照射测定光;

第1光检测部,检测通过向所述免疫色谱试验片上的第1位置照射所述测定光而产生的来自于所述免疫色谱试验片的反射光;

第2光检测部,检测通过向所述免疫色谱试验片上的较所述第1位置位于下游侧的第2位置照射所述测定光而产生的来自于所述免疫色谱试验片的反射光;以及

控制部,根据来自所述第1及第2光检测部的输出信号,取得从所述第1位置上的吸光度发生变化起至所述第2位置上的吸光度发生变化为止的经过时间。

4.如权利要求3记载的免疫色谱试验片的测定装置,其特征在于,

具备第1及第2所述光照射部,

所述第1光检测部检测因所述第1光照射部的照射而产生的所述反射光,

所述第2光检测部检测因所述第2光照射部的照射而产生的所述反射光。

5.如权利要求4记载的免疫色谱试验片的测定装置,其特征在于,

具备:

第1光学头,其中一体地组装有所述第1光照射部及所述第1光检测部;

第2光学头,其中一体地组装有所述第2光照射部及所述第2光检测部,

所述第1光学头及所述第2光学头之中的至少一方具有覆盖所述测定光及所述反射光的光路的部件。

6.如权利要求5记载的免疫色谱试验片的测定装置,其特征在于,

所述第1光学头与所述第2光学头之间的间隔是可变的。

7.如权利要求4记载的免疫色谱试验片的测定装置,其特征在于,

具备光学头,其中一体地组装有所述第1与第2光照射部、以及所述第1及第2光检测部,

所述光学头具有覆盖所述测定光及所述反射光的光路的部件。

8.如权利要求4~7中任一项记载的免疫色谱试验片的测定装置,其特征在于,

在所述第1光照射部熄灭后点亮所述第2光照射部。

9.如权利要求3~8中任一项记载的免疫色谱试验片的测定装置,其特征在于,

所述免疫色谱试验片具有与被检测体发生抗原抗体反应的带状区域,

在所述第1位置上的吸光度发生变化后经过较所述经过时间更长的预定时间之后,所述控制部取得所述带状区域的吸光度。

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