[发明专利]波导型干涉光路有效
申请号: | 200780049189.1 | 申请日: | 2007-12-27 |
公开(公告)号: | CN101573645A | 公开(公告)日: | 2009-11-04 |
发明(设计)人: | 那须悠介;小熊学;桥诘泰彰;井上靖之;高桥浩;服部邦典;桥本俊和;坂卷阳平 | 申请(专利权)人: | 日本电信电话株式会社 |
主分类号: | G02B6/122 | 分类号: | G02B6/122;G02B6/12 |
代理公司: | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 余 朦;方 挺 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 波导 干涉 | ||
1.波导型干涉仪,包括:至少一个输入波导;与所述输入波导连接的光分路部分;至少一个输出波导;与所述输出波导连接的光合波部分;连接所述光分路部分及所述光合波部分的至少两个波导臂,其特征在于,还包括:
第一半波片,被插入到所述至少两个波导臂的各自光程的中间点,
第二半波片,具有相对于所述第一半波片倾斜45°或-45°的折射率主轴,其位于所述至少两个波导臂上,被插入到所述至少两个波导臂中的所述输入波导侧或所述输出波导侧的任意一侧,其中,
所述至少两个波导臂由长波导臂及短波导臂两个波导臂形成,所述第一半波片包括与所述长波导臂及短波导臂对应的各不相同的分立的半波片,
所述不同的分立的半波片及所述第二半波片形成各不相同的分立的旋光元件,
所述不同的分立的半波片的折射率主轴的倾斜被选择为同一方向、或主轴互成90°的夹角,以及,
设ΔL为所述长波导臂与所述短波导臂的光程差,B为波导的重折率,λ为干涉仪的使用波长,当所述不同的分立的半波片的折射率主轴的倾斜被选择为同一方向或主轴互成90°的夹角时,并且在波导臂间的相位差Φ分别为0°或180°时,按照使以
α=B*ΔL/(2*λ)+Φ/2π
表示的α值的范围为m-0.25<α<m+0.20的条件,设定重折率B,其中m为整数。
2.根据权利要求1所述的波导型干涉仪,其特征在于,α值为整数。
3.波导型干涉仪,包括:至少一个输入波导;与所述输入波导连接的光分路部分;至少一个输出波导;与所述输出波导连接的光合波部分;连接所述光分路部分及所述光合波部分的至少两个波导臂,其特征在于,还包括:
第一半波片,被插入到所述至少两个波导臂的各自光程的中间点,
第二半波片,具有相对于所述第一半波片倾斜45°或-45°的折射率主轴,其位于所述至少两个波导臂上,被插入到所述至少两个波导臂中的所述输入波导侧或所述输出波导侧的任意一侧,其中,
所述至少两个波导臂由长波导臂及短波导臂两个波导臂形成,所述第二半波片包括与所述长波导臂及短波导臂对应的各不相同的分立的半波片,
所述第一半波片及所述不同的分立的半波片分别形成不同的分立的旋光元件,
所述不同的分立的半波片的折射率主轴独立地被选择为相对于所述第一半波片成45°或-45°,
设ΔL为所述长波导臂与所述短波导臂的光程差,B为波导的重折率,λ为干涉仪的使用波长,当所述不同的分立的半波片的折射率主轴的倾斜被选择为同一方向或主轴互成90°的夹角时,并且在波导臂间的相位差Φ分别为0°或180°时,按照使以
α=B*ΔL/(2*λ)+Φ/2π
表示的α值满足m-0.25<α<m+0.20的条件,设定重折率B,其中m为整数。
4.根据权利要求3所述的波导型干涉仪,其特征在于,α值为整数。
5.波导型干涉仪,包括:至少一个输入波导;与所述输入波导连接的光分路部分;至少一个输出波导;与所述输出波导连接的光合波部分;连接所述光分路部分及所述光合波部分的至少两个波导臂,其特征在于,还包括:
提供相位差的波导部分,分别被包含在所述至少两个波导臂内,在所述干涉仪中使用的工作波长中对所述两个以上的波导臂内的正交偏振之间提供180°的相位差;
位于所述至少两个波导臂上的半波片,其折射率主轴相对于所述至少两个波导臂的折射率主轴倾斜45°或-45°,被插入到与所述至少两个波导臂的当所述提供相位差的波导部分不存在时各光程的中间点相当的位置,所述半波片位于所述提供相位差的波导部分中的所述输入波导侧或所述输出波导侧的任意一侧。
6.根据权利要求5所述的波导型干涉仪,其特征在于,
设Br为波导臂的重折率,λ为干涉仪的使用波长,m为整数,所述提供相位差的波导部分的长度Lr满足λ*(0.25+m)/Br<Lr<λ*(0.75+m)/Br。
7.根据权利要求6所述的波导型干涉仪,其特征在于,
设Br为波导臂的重折率,λ为干涉仪的使用波长,m为整数,所述提供相位差的波导部分的长度Lr满足Lr=λ*(1/2+m)/Br。
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