[发明专利]反走样装置无效
| 申请号： | 200780049713.5 | 申请日： | 2007-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN101583975A | 公开（公告）日： | 2009-11-18 |
| 发明（设计）人： | 都丸义广;原田雅之;内藤麻奈美 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | G06T15/00 | 分类号： | G06T15/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 李今子 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 走样 装置 | ||
1.一种反走样装置，其特征在于，具备：
反走样选择条件数据输入单元，输入在多个反走样方法中对每个描绘对象数据选择哪个反走样方法；
反走样方法选择单元，根据由上述反走样选择条件数据输入单元输入的条件，选择上述多个反走样方法中的某一个；以及
反走样处理单元，根据由上述反走样方法选择单元选择的方法，进行上述描绘对象数据的反走样处理。
2.根据权利要求1所述的反走样装置，其特征在于，描绘对象数据是3D多边形数据。
3.根据权利要求1所述的反走样装置，其特征在于，描绘对象数据是文字数据。
4.根据权利要求1所述的反走样装置，其特征在于，描绘对象数据是图像数据。
5.一种反走样装置，其特征在于，具备：
反走样选择条件数据输入单元，输入在多个反走样方法中对每个像素选择哪个反走样方法；
反走样方法选择单元，根据由上述反走样选择条件数据输入单元输入的条件，对描绘对象数据的像素的每一个选择上述多个反走样方法中的某一个；以及
反走样处理单元，根据由上述反走样方法选择单元选择的方法，对上述描绘对象数据的像素的每一个进行反走样处理。
6.根据权利要求5所述的反走样装置，其特征在于，反走样选择条件数据输入单元对具有特定坐标值的像素的每一个输入选择条件。
7.根据权利要求5所述的反走样装置，其特征在于，反走样选择条件数据输入单元对具有特定像素值的像素的每一个输入选择条件。
8.根据权利要求5所述的反走样装置，其特征在于，反走样选择条件数据输入单元对具有特定深度值的像素的每一个输入选择条件。
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