[发明专利]容器口部缺陷检查方法及装置有效
申请号: | 200780052565.2 | 申请日: | 2007-04-13 |
公开(公告)号: | CN101646935A | 公开(公告)日: | 2010-02-10 |
发明(设计)人: | 原田崇 | 申请(专利权)人: | 东洋玻璃株式会社 |
主分类号: | G01N21/90 | 分类号: | G01N21/90;G01B11/30 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 吕林红 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 容器 缺陷 检查 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种检查玻璃瓶等容器的口部顶面有无缺陷的容器 口部检查方法及装置。
背景技术
作为进行此种检查的方法和装置,本申请人已经提出过下述专利 文献1、2公开的方案。
专利文献1的方案为:向瓶口部顶面投光后由一个光电元件接收 反射光,利用可对其输出信号进行放大度调节的放大器,并基于最新 的预定数的瓶的数据的平均值,调节上述放大器的放大度而使该值成 为预定值。对于检查中的瓶,沿口部顶面的整周对上述放大器的输出 信号进行比较运算,在其异常成分超过了预定值时,输出缺陷信号。
具有不受各个瓶的顶面的反射率差异和投光器老化的影响、能进 行稳定检查的特征。
专利文献2的方案为:向瓶口部顶面投光后通过线传感器(图像 传感器)接收反射光,假定顶面凹陷的顶角在规定值以下、该凹部宽度 D(顶面凹陷部分的沟宽度)在规定值以上时,判定存在顶面凹陷缺陷, 输出不合格信号。
据此,能够高精度地自动检查此前难以自动检查的预面凹陷。
专利文献1:JP特开平3-7260号公报
专利文献2:JP特开平5-40846号公报
发明内容
上述专利文献1不仅不能检测出顶面凹陷,并且由于使用一个光 电元件检查,所以检查精度存在限制。即,难以检查小的顶面细纹、 顶面气泡等,如果降低阈值以应对此种情况,则由于各种噪音,存在 把合格品判定为不合格品的误判增加的问题。
上述专利文献2只能检查出顶面凹陷缺陷,为了检查顶面细纹、 顶面气泡、顶面起伏、顶面凹陷等全部的缺陷,还必需与专利文献1 的检查装置并用。
本发明的目的在于,通过正确作成应该进行检查的检查门,不仅 能高精度地对顶面的顶面细纹、顶面气泡进行检查,还能以一台检查 装置对顶面细纹、顶面气泡、顶面起伏、顶面凹陷等全部的缺陷进行 检查。
〔方案1〕
本发明是一种容器口部缺陷检查方法,向旋转的容器口部的检查 位置投光,在该检查位置由朝向口部的宽度方向的线传感器接收反射 光以检查容器口部的缺陷,其特征在于,
从所述口部的内侧方向向外侧方向搜索所述线传感器的各线的 线数据,
该数据有超过边(edge)信号阈值(EL)的区域,
该区域的宽度比边宽度阈值(EW)大时,以最先达到边信号阈值 (EL)的地址(检查门边地址GE)加上预定的偏移值(OFS)后的地址作为 检查门开始位置地址(GES),
所述区域的宽度比所述边宽度阈值(EW)小,在所述区域之外, 还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时,以该第2区域的最先达 到边信号阈值(EL)的地址(检查门边地址GE)加上预定的偏移值(OFS) 后的地址作为检查门开始位置地址(GES),
将从所述检查门开始位置地址(GES)到用任意的方式求得的检 查门结束位置地址(GEE),作为进行检查的范围、即检查门,
在该检查门中,进行顶面细纹或顶面气泡的检查。
顶面细纹是指,表面的细小凹沟状的损伤,相比于正常部分反射 光变暗。顶面气泡是指,在浅表面的内部存在气泡的缺陷,由于气泡 的透镜效应,相比于正常部分反射光变亮。
本申请的方案1的发明由于把达到了边信号阈值(EL)的地址(检 查门边地址GE)加上预定的偏移值(OFS)后的位置作为检查门开始位 置地址(GES),所以例如,当容器中心与旋转轴偏离、容器由于旋转 而晃动时,由于对应进行顶面(以及口部侧面)的顶面细纹、顶面气泡 检查的范围(检查门)的开始位置能正确地设定,因而可不受各种噪音 影响地、高精度地对顶面的顶面细纹、顶面气泡进行检查。此外,最 先达到了边信号阈值(EL)的区域的宽度比边宽度阈值(EW)小、在所述 区域以外还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时,由于把该第2 区域的最先达到了边信号阈值(EL)的地址(检查门边地址GE)加上预 定的偏移值(OFS)后的位置作为检查门开始位置地址(GES),所以口部 内侧即便有顶面凹陷等时,应进行顶面的顶面细纹、顶面气泡检查的 范围(检查门)的开始位置也能准确地设定,能高精度地对顶面的顶面 细纹、顶面气泡进行检查。
可考虑口部的断面形状及大小、线传感器的规格等来适当地决定 边信号阈值(EL)、偏移值(OFS)。
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