[发明专利]生产多晶硅的装置和方法以及多晶硅的锭和片有效
申请号: | 200780053018.6 | 申请日: | 2007-12-21 |
公开(公告)号: | CN101680110A | 公开(公告)日: | 2010-03-24 |
发明(设计)人: | B·温纳特;M·尤里施;S·艾什勒 | 申请(专利权)人: | 弗赖贝格化合物原料有限公司 |
主分类号: | C30B29/06 | 分类号: | C30B29/06;C30B11/00;H01L31/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 郭建新 |
地址: | 德国弗*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 生产 多晶 装置 方法 以及 | ||
1.生产晶体硅的方法,它包括如下步骤:
·从硅原料形成熔体,
·进行硅熔体的定向凝固,其中在坩埚内熔化所述硅原料,
a)在提供覆盖在硅熔体上方的覆盖料的条件下,其中所述覆盖料选 自元素周期表III和IV主族的元素的氧化物或碳酸盐,及其混合物;和/ 或
b)其中以一定方式提供坩埚,使得在硅熔体上方形成提供与外部隔 离的受控气氛的有限气体空间,其中以可控方式通过适当的源、管子和 阀将含有氧、碳和/或氮的气体物质和任选地惰性气体通入硅熔体上方的 气体空间,以便调节最终抑制和阻止化合物沉淀的气氛平衡,
其中至少在凝固阶段的过程中,在熔体上方建立稳态平衡。
2.权利要求1的方法,其特征在于,对包围所述气体空间的壁加热 以防气体空间的组分凝聚。
3.权利要求1的方法,其中粒状或熔融的物质形式的覆盖料遮盖所 述硅熔体,它完全地或部分地遮盖所述熔体。
4.权利要求1的方法,其中所述覆盖料包含二氧化硅、二氧化锗、 氧化铝、氧化硼或所述氧化物的混合物。
5.权利要求1的方法,其中所述覆盖料是二氧化硅、二氧化锗、氧 化铝、氧化硼或所述氧化物的混合物。
6.权利要求4或5的方法,其中将所述呈SiO2或B2O3的粉末或碎片 形式的覆盖料应用于所述硅原料上。
7.生产晶体硅的装置,它包括:
·可装填硅原料的坩埚(5),
·至少一个用于加热所述坩埚的加热器(6,7),其中这样布置所述 装置以致
a)硅熔体(1)中、从而凝固的晶体硅(2)中选自氧、碳和氮的外 来原子的浓度是可控的;和/或
b)分布在硅熔体上方气相中的气体组分的分压是可调和/或可控的, 所述气体组分选自氧气、碳气和氮气以及含有至少一种选自氧、碳和氮 的元素的气体物质;
其中对该装置进行设置,使得其中至少在凝固阶段的过程中,在熔 体上方建立稳态平衡。
8.权利要求7的装置,其中封盖所述坩埚而在所述熔体(1)上方 形成由热壁完全限定的气体空间(4)。
9.权利要求7的装置,其中用由耐温材料制成的盖子(8)覆盖所 述坩埚(5)而使其与外部隔离。
10.权利要求7的装置,其中这样设置装有硅原料的坩埚(5)以致 在硅原料上方和硅熔体(1)上方提供粒状和/或熔化的覆盖料(9)。
11.权利要求10的装置,其中所述覆盖料包含选自SiO2、GeO2、Al2O3、 CaCO3或B2O3或其混合物的材料的粉末、颗粒或熔体。
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