[发明专利]用于测量物体距离的特征检测装置和方法

权利要求书

1.一种特征检测装置，包括：

输入单元，其用于接收至少两条区域指示线，所述至少两条区域指示 线用于在数字图像中限定包括物体的部分的所关注的区域；

参数范围限定单元，其用于限定待引入所述数字图像中的参数化图形 的至少两个参数的范围，使得所述参数化图形与至少一条区域指示线交叉；

参数选择单元，其用于从参数范围选择参数值的组合，使得所述参数 化图形构成对所关注的所述区域中的所述物体的物体特征的近似；以及

输出单元，其用于根据所述参数值的组合提供所述参数化图形用于显 示在所述数字图像中。

2.如权利要求1所述的特征检测装置，其中所述输入单元适合于接收 识别所述参数化图形的信息，所述参数化图形构成多个可预先选择的候选 参数化图像之一。

3.如权利要求1或2所述的特征检测装置，其中所述参数范围限定单 元适合于限定多个不同参数化图形的参数的范围，使得每个所述参数化图 形与至少一条所述区域指示线交叉。

4.如权利要求1或2所述的特征检测装置，其中所述参数选择单元适 合于选择所述参数值的组合，以便所述参数化图形构成对所关注的所述区 域中的所述物体的所述物体特征的最佳拟合近似。

5.如权利要求1或2所述的特征检测装置，其中所述参数范围限定单 元适合于限定至少一个参数化图形的所述至少两个参数的子范围，使得所 述至少一个参数化图形与至少两条区域指示线交叉。

6.如权利要求1或2所述的特征检测装置，其中所述输入单元适合于 接收至少两个指示点以限定区域指示线的端点。

7.如权利要求1或2所述的特征检测装置，其中所述至少两条区域指 示线基于两个指示点，所述区域指示线延伸通过所述指示点，使得所述区 域指示线限定所关注的基本上矩形的区域。

8.如权利要求1或2所述的特征检测装置，还包括：

检测单元，其用于通过使用检测算法处理所关注的所述区域或由操作 员选择所关注的所述区域中的所述物体特征像素来获得所关注的所述区域 中的所述物体特征的物体特征像素。

9.如权利要求8所述的特征检测装置，还包括：

计算单元，其用于根据所述物体特征的所获得的物体特征像素来计算 对所述物体特征的近似。

10.如权利要求8所述的特征检测装置，还包括：

过滤单元，其用于从所述获得的物体特征像素过滤出超过到所述参数 化图形的特定距离的物体特征像素；以及

再次计算单元，其用于根据不包括超过所述特定距离的所述物体特征 像素的所述获得的物体特征像素来再次计算对所述物体特征的近似。

11.如权利要求9所述的特征检测装置，还包括：

过滤单元，其用于从所述获得的物体特征像素过滤出超过到所述参数 化图形的特定距离的物体特征像素；以及

再次计算单元，其用于根据不包括超过所述特定距离的所述物体特征 像素的所述获得的物体特征像素来再次计算对所述物体特征的近似。

12.如权利要求1或2所述的特征检测装置，其中根据所述选择的参 数值的所述参数化图形被重叠在显示单元上的所述数字图像中的所述物体 特征上。

13.如权利要求1或2所述的特征检测装置，其中所述参数选择单元 适合于从所述参数范围选择参数值的另一组合，使得第二参数化图形构成 对所关注的所述区域中的第二物体特征的近似，且其中计算在所述两个参 数化图形之间的中心线。

14.一种光学仪器，其包括根据权利要求1到12中的任何一项所述的 特征检测装置。

15.如权利要求14所述的光学仪器，还包括：

第一控制元件，其用于在参数化图形上限定测量像素，并采用待测量 的物体的位置和所述光学仪器之间的默认距离将所述测量像素转换成所述 位置的坐标的近似。