[发明专利]FRET检测方法及装置无效

专利信息
申请号: 200780053706.2 申请日: 2007-08-30
公开(公告)号: CN101688836A 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: 中田成幸;木村宪明 申请(专利权)人: 三井造船株式会社
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 北京万慧达知识产权代理有限公司 代理人: 葛 强;张一军
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: fret 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种FRET检测方法,将激光照射在用第一分子和第二分子进行了 标记的测量对象样品上,此时通过接收测量对象样品所发出的荧光,检测出 第一分子的能量朝向第二分子转移的FRET,其特征在于:

所述FRET检测方法,包括下述步骤:

收集检测值的步骤,其中,朝向所述测量对象样品照射以规定频率对强 度进行了时间调制的激光,且使用接收波段不同的多个检测传感器来接收所 述测量对象样品在此时所发出的荧光,由此收集含有所述测量对象样品的荧 光的荧光强度信息和相位信息的检测值,其中,所述接收波段包括以使所述 第一分子荧光成分的荧光强度最大的峰值波长为中心的第一波段和以使所 述第二分子荧光成分的荧光强度最大的峰值波长为中心的第二波段;

读取并得到预先存储在存储装置的校准信息的步骤,其中,所述校准信 息至少包括下述信息:第一强度比,其表示的是所述测量对象样品的所述荧 光中所述第一分子发出的第一分子荧光成分在所述第二波段的荧光强度与其 在所述第一波段的荧光强度之比;相对于所述激光时间调制的所述第一分子 荧光成分的相位信息;第二强度比,其表示的是所述荧光中所述第二分子发 出的第二分子荧光成分在所述第一波段的荧光强度与其在所述第二波段的荧 光强度之比;相对于所述激光时间调制的所述第二分子荧光成分的相位信 息;在没有发生所述FRET的状态下所述第一分子荧光成分的非FRET荧光 寿命,其被定义为通过激光被激发的第一分子发出的荧光做出一次滞后系统 的弛豫响应的时刻;

求出所述第一分子荧光成分的FRET荧光寿命的步骤,从各个检测传感 器所收集的所述检测值中,求出在每个所述接收波段中所述测量对象样品的 荧光的荧光强度信息和相位信息,并利用所求出的所述荧光强度信息和所述 相位信息、所述第一强度比、所述第一分子荧光成分的所述相位信息、所述 第二强度比、所述第二分子荧光成分的所述相位信息,求出被定义为通过激 光被激发的第一分子发出的荧光做出一次滞后系统的弛豫响应时的所述第 一分子荧光成分的FRET荧光寿命;

求出FRET发生信息的步骤,其中,利用所述第一分子荧光成分的FRET 荧光寿命与所述第一分子荧光分子的所述非FRET荧光寿命之比,求出 FRET发生信息。

2.如权利要求1所述的FRET检测方法,在求出所述FRET发生信息 的步骤中,将所述非FRET荧光寿命设定为τd、将所述FRET荧光寿命设定 为τd*时,求出作为所述FRET发生信息的由1-(τd*d)表示的FRET 效率Et

3.如权利要求1或2所述的FRET检测方法,其中,

在收集所述检测值的步骤中,将所述激光照射在多个所述测量对象样品 上,并利用所述传感器收集关于多个所述测量对象样品的每个所述检测值;

在求出所述FRET荧光寿命的步骤中,根据各个检测值求出每个所述测 量对象样品的荧光强度信息和相位信息,且从求出的多个荧光强度信息和相 位信息中求出所述FRET荧光寿命。

4.如权利要求1所述的FRET检测方法,其中,在求出所述FRET荧 光寿命的步骤中,将从所述检测值中求出的所述荧光强度和相位信息用矢量 表示在每个所述接收波段上,并将该矢量与所述第一强度比、所述第二强度 比用于每个所述接收波段上,由此求出在产生FRET的状态下所述第一分子 荧光成分的荧光强度信息和相位信息与所述第二分子荧光成分中因FRET 的产生而发出FRET成分的荧光强度信息和相位信息,并利用所求出的信息 求出所述FRET荧光寿命。

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