[发明专利]测量热传导效果的装置与方法无效

专利信息
申请号: 200810001296.3 申请日: 2008-01-17
公开(公告)号: CN101487805A 公开(公告)日: 2009-07-22
发明(设计)人: 陈文仁 申请(专利权)人: 联茂电子股份有限公司
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 陈 晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 测量 热传导 效果 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种测量热传导效果的装置,用于测量基板的热传导效果,其特征在于,至少包括:

加热盘,该基板设置于该加热盘上,该基板与该加热盘之间至少具有一个空间;以及

表面温度测量计,其中该表面温度测量计、该加热盘与该基板的接触位置错开,形成间接热传导方式。

2.如权利要求1所述的测量热传导效果的装置,其特征在于,该基板的材质为环氧树脂、绝缘金属基板、铝基板或MCPCB。

3.如权利要求1所述的测量热传导效果的装置,其特征在于,该加热盘提供的加热模式为固定温度模式或固定热功率模式。

4.如权利要求1所述的测量热传导效果的装置,其特征在于,该加热盘的形状为圆形、方形、矩形或三角形。

5.如权利要求1所述的测量热传导效果的装置,其特征在于,该空间填充空气或绝热材料。

6.如权利要求1所述的测量热传导效果的装置,其特征在于,该表面温度测量计为热电偶、红外线传感器或温度传感器。

7.一种测量热传导效果的方法,用于测量基板的热传导效果,其特征在于,至少包括下列步骤:

将该基板放置于加热盘上,启动该加热盘,选定加热模式,提供热源功率加热该基板,且使用计时器;以及

使用表面温度测量计,用以测量该基板从低温升温至高温,并使用该计时器记录该低温至该高温的加热时间,其中该表面温度测量计、该加热盘与该基板的接触位置错开,形成间接热传导方式。

8.如权利要求7所述的测量热传导效果的方法,其特征在于,该基板的材质为环氧树脂、绝缘金属基板、铝基板或MCPCB。

9.如权利要求7所述的测量热传导效果的方法,其特征在于,该加热盘的形状为圆形、方形、矩形或三角形。

10.如权利要求7所述的测量热传导效果的方法,其特征在于,该表面温度测量计为热电偶、红外线传感器或温度传感器。

11.如权利要求7所述的测量热传导效果的方法,其特征在于,该加热模式为固定温度模式或固定热功率模式。

12.如权利要求7所述的测量热传导效果的方法,其特征在于,该低温至该高温的范围介于约摄氏40度至约摄氏65度。

13.如权利要求7至12任一项所述的测量热传导效果的方法,其特征在于,利用下列公式来决定该基板的热传导效果:a(ΔT×t)/(Q)+C,其中a为该基板的热传导效果,Q为该加热盘提供的热源功率,t为该计时器所得到的该加热时间的多次平均值,ΔT为该表面温度测量计所测量到的该基板的该高温与该低温的温度差,而C为常数。

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