[发明专利]缺陷管理数据存取方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种光驱，尤其是涉及光驱读取光盘片时，处理及置换光盘片所储存缺陷管理数据的存取方法。

背景技术

由于光盘片利用微小且密集的记号，增加储存容量，只要沾染污渍、灰尘或刮伤，就会覆盖住微小记号，而影响正确判读记号。光驱提供缺陷管理的机制，使得缺陷区块的数据能储存在光盘片上的置换区，光驱读取数据时，以置换数据替代缺陷数据，顺利读写光盘片。

如图1所示，其为已知光盘片缺陷管理数据的存取过程，光盘片D由内圈至外圈，依序分为导入区、置换区1、数据区、置换区2及导出区。光驱读取光盘片D时，首先移动读取头H至所需读取区块，读取中若发现读取区域包含缺陷数据区块，则移动读取头H到缺陷管理区的置换区1或置换区2，进行置换数据区块的读取，再进行缓冲区数据的重整后，将包含置换的数据回传主机端，完成光盘片数据的读取。

如图2所示，其为已知缺陷管理数据的存取方法，步骤P1当光驱接收主机指令，读取某一区块数据后，进入步骤P2，光驱移动读取头搜寻光盘片所需区块的位置，将所需区块数据一一读出，储存在光驱存储器的第一缓冲区。再进入步骤P3，移动读取头至缺陷管理区，搜寻置换区1或置换区2所储存所需区块的缺陷管理数据，读出并储存至光驱存储器的第二缓冲区。接着，进入步骤P4，利用第二缓冲区的缺陷管理数据置换第一缓冲区区块数据的缺陷。最后，进入步骤P5，将置换后第一缓冲区的区块数据，输出至主机，完成读取作业。

然而，已知缺陷管理数据的存取方法，光驱每次读取数据区块后，必需移动读取头至缺陷管理区，在光盘片前后的置换区1或置换区2，搜寻及读取所需的缺陷管理数据，完成后再移动读取头回至数据区，读取下一指令的区块数据。导致光驱读取光盘片时，在数据区与缺陷管理区间来回移动读取头，增加读取的时间，降低光驱整体的效能。因此，光驱在缺陷管理数据的存取上，仍有问题亟待解决。

发明内容

本发明的目的在于提供一种缺陷管理数据存取方法，通过增设快取缓冲区，储存热门的缺陷管理数据，快取所需区块的缺陷管理数据，加速置换及校正区块数据，以提高读取的效率。

本发明的另一目的在于提供一种缺陷管理数据存取方法，通过缺陷管理数据存取过程，评估缺陷管理数据特性，筛选出热门的缺陷管理数据，储存于数据快取缓冲区，减少来回移动读取的次数，以缩短读取时间。

为了达到前述发明的目的，本发明缺陷管理数据存取方法，光驱接受指令读取光盘片上所需的区块数据，读取所需区块数据，并储存在第一缓冲区，优先由快取缓冲区快取所需区块的缺陷管理数据，否则至光盘片缺陷管理区读取所需区块的缺陷管理数据，将所需区块的缺陷管理数据储存于第二缓冲区，检查第二缓冲区的缺陷管理数据为热门数据，如为热门数据则复制至快取缓冲区，再以缺陷管理数据置换第一缓冲区区块的缺陷数据，输出第一缓冲区置换后的区块数据。

附图说明

图1为已知光盘片缺陷管理数据存取过程的示意图。

图2为已知缺陷管理数据存取方法的流程图。

图3为光盘片数据结构的示意图。

图4(a)-(e)为本发明形成数据快取区过程的示意图。

图5(a)-(c)为本发明快取缺陷管理数据过程的示意图。

图6为本发明缺陷管理数据存取方法的流程图。

附图符号说明

S1指令读取区块数据步骤

S2读取区块数据至第一缓冲区步骤

S3检查第三缓冲区是否有所需快取数据步骤

S4读取缺陷管理区缺陷管理数据至第二缓冲区步骤

S5检查缺陷管理数据是否为热门数据步骤

S6复制缺陷管理数据至第三缓冲区步骤

S7以缺陷管理数据置换第一缓冲区区块缺陷数据步骤

S8输出第一缓冲区区块数据步骤

具体实施方式

有关本发明为达到上述目的，所采用的技术手段及其功效，现举较佳实施例，并结合附图加以说明如下。

本发明缺陷管理数据存取方法，当光驱读取光盘片时，首先在光驱存储器划设第一缓冲区、第二缓冲区及第三缓冲区等三个缓冲区，除第一缓冲区用以储存读出的区块数据，第二缓冲区用以储存读出的缺陷管理数据，维持原储存功能外，另划设的第三缓冲区，作为数据快取缓冲区，用以储存较热门的缺陷管理数据。热门的缺陷管理数据根据数据的位置、类别及存取次数等作为分类的标准。并在光驱接受指令读取光盘片区块数据时，在存取缺陷管理数据过程中，顺便评估缺陷管理数据的热门程度，将符合标准的缺陷管理数据，一一储存在光驱存储器的第三缓冲区。