[发明专利]信号产生装置及其信号产生方法无效

专利信息
申请号: 200810003418.2 申请日: 2008-01-11
公开(公告)号: CN101394179A 公开(公告)日: 2009-03-25
发明(设计)人: 陈信宏;柯凌维;余岱原;林哲煜 申请(专利权)人: 联发科技股份有限公司
主分类号: H03L7/089 分类号: H03L7/089;H03L7/197
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 任默闻
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 信号 产生 装置 及其 方法
【说明书】:

技术领域

本发明是关于一种信号产生装置,尤指一种以锁相环为基础并具有回路 带宽补偿机制的信号产生装置(例如发射机)及其相关方法,其中回路带宽补偿 机制是依据信号产生装置的可控振荡器的合成信号来调校相位/频率电荷泵装 置(Phase/Frequency Charge Pump Device)。

背景技术

一般而言,锁相环电路是用来合成所要的输出信号,此输出信号所具有 的频率是源信号的参考频率的倍数,而锁相环电路的回路带宽尽可能稳定地 维持于锁相环电路的输出频率的预定范围内。请参照图1,图1是先前技术∑-Δ

N分数锁相环(Sigma-delta fractional-N phase-locked loop)发射机10的示意 图,∑-ΔN分数锁相环发射机10包含有锁相环电路11、∑-Δ调制器12、频道选 择器13、高斯滤波器(Gaussian filter)14与补偿滤波器15,其中锁相环电路11 包含有相位/频率检测器11a、电荷泵电路11b、回路滤波器11c、压控振荡器11d 与分频器11e。基带数据Sb输入至高斯滤波器14以抽取出∑-ΔN分数锁相环发 射机10所需要的频带,举例来说,若∑-ΔN分数锁相环发射机10所欲传送的信 号是高斯最小移位键控(Gaussian Minimum Shift Keying,GMSK)信号SGMSK, 则高斯滤波器14是高斯最小移位键控滤波器。此外,因为锁相环电路11的频 率响应如同低通滤波器的频率响应,所以补偿滤波器15用来在基带数据Sb被∑-Δ调 制器12调制前补偿基带数据Sb。锁相环电路11会使用参考频率Sr来合成出所 需要的频率以传送基带数据Sb,而在多频带系统中,锁相环电路11需要产生 不同频率的频带,频道选择器13用来选取出所需要的频带,通过分频器11e所 使用的分频参数的数值变化,锁相环电路11可产生出不同频率的频带。然而, 回路带宽易受到锁相环电路11的转换函数的参数的数值变化所影响,因此, 必须提出有效的机制来调校∑-ΔN分数锁相环发射机10的回路带宽;关于先前 技术的详细描述,可参阅美国专利号6724265B2。

发明内容

本发明的目的之一在于提供一种以锁相环为基础并具有回路带宽补偿机 制的信号产生装置(例如发射机)及其相关方法,其中回路带宽补偿机制是依据 信号产生装置的可控振荡器的合成信号来调校相位/频率电荷泵装置(Phase/ Frequency Charge Pump Device),从而使回路带宽的稳定性得以增强。

依据本发明的一实施例,提供一种信号产生装置。信号产生装置包含有 测试数据产生器、N分数锁相环(fractional-N phase-locked loop)装置与调校装 置。测试数据产生器用来产生测试数据,而N分数锁相环装置耦合于测试数据 产生器,并用于在接收到测试数据时依据测试数据产生合成信号,以及调校 装置耦合于N分数锁相环装置,并用于在直流偏移调校状态下得到所述N分数 锁相环装置的载波信号的功率,然后在回路带宽调校状态时,对所述合成信 号进行降频及滤波后测量降频及滤波后的基带测试信号的功率,并依据所述 合成信号经所述直流偏移调校后的数据来调整所述基带测试信号,从而得到 调整后的信号,以及根据所述调整后的信号产生用于调整所述N分数锁相环装 置的回路带宽的调校信号。

依据本发明的又一实施例,提供一种信号产生装置,所述信号产生装置 包含:测试数据产生器,用来产生测试数据;N分数锁相环装置,耦合于所述 测试数据产生器,用于在接收到所述测试数据时依据所述测试数据来产生合 成信号;混频器,耦合于所述N分数锁相环装置,用来依据所述合成信号来降 频所述合成信号以产生第一降频信号;带通滤波器,耦合于所述混频器,用 来对所述第一降频信号进行滤波以输出子频带信号;模数转换器,耦合于所 述带通滤波器,用来将所述子频带信号转换成数字子频带信号;第一相位检 测器,耦合于所述模数转换器,用来侦测所述数字子频带信号的相位以产生 对应于所述数字子频带信号的第二相位值;第二相位检测器,耦合于所述测 试数据产生器,用来侦测所述测试数据的相位以产生对应于所述测试数据的 第一相位值;以及计算电路,耦合于所述第一相位检测器与所述第二相位检 测器,用来依据所述第一相位值与所述第二相位值来决定调校信号。

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