[发明专利]计数设备、测距计、计数方法及距离测量方法

权利要求书

1.一种计数设备，其特征在于，包括：

计数装置(80)，用于对在计数区间中输入的信号的数目进行计数，所述信号的数目与物理量具有线性关系，并且在所述物理量恒定时，所述信号具有基本上单一的频率；

周期测量装置(840)，用于在所述计数区间中每次输入信号时测量信号的周期；

频率分布产生装置(841)，用于根据由所述周期测量装置获得的测量结果，产生所述计数区间中的信号周期的频率分布；

代表值计算装置(842)，用于根据由所述频率分布产生装置产生的频率分布，计算信号周期分布的代表值；以及

校正值计算装置(843)，用于根据由所述频率分布产生装置产生的频率分布，获得在不大于由所述代表值计算装置计算的代表值的第一预定倍数的等级中的频率的总和Ns以及在不小于所述代表值的第二预定倍数的等级中的频率的总和Nw，并基于频率Ns和Nw来校正由所述计数装置获得的计数结果。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述代表值计算装置计算中值、众数和平均值之一来作为代表值。

3.根据权利要求1所述的设备，其中，所述校正值计算装置根据N′＝N+Nw-Ns，从所述计数装置的计数结果N中获得校正后的计数结果N′。

4.根据权利要求1所述的设备，其中，所述校正值计算装置采用分别等于0.5和1.5的第一预定倍数和第二预定倍数，获得等级中的频率的总和Ns与Nw。

5.一种测距计，其特征在于，包括：

半导体激光器(1)，用于向测量目标(12)发射激光束；

激光器驱动器(4)，用于使所述半导体激光器进行操作以使第一振荡区间和第二振荡区间交替存在，其中第一振荡区间至少包括振荡波长连续单调增大的区间，第二振荡区间至少包括振荡波长连续单调减小的区间；

信号获取设备(2，13)，用于获取电信号，所述电信号包含由发射自所述半导体激光器的激光束以及来自所述测量目标的光反馈引起的干涉波形；

计数装置(80)，用于对来自所述信号获取设备的输出信号中包含的干涉波形的数目进行计数；

周期测量装置(840)，用于在计数区间中每次输入干涉波形时测量干涉波形的周期；

频率分布产生装置(841)，用于根据由所述周期测量装置获得的测量结果，产生计数区间中的干涉波形周期的频率分布；

代表值计算装置(842)，用于根据由所述频率分布产生装置产生的频率分布，计算干涉波形周期分布的代表值；

校正值计算装置(843)，用于根据由所述频率分布产生装置产生的频率分布，获得不大于由代表值计算装置计算的代表值的第一预定倍数的等级中的频率的总和Ns以及不小于所述代表值的第二预定倍数等级中的频率的总和Nw，并基于频率Ns和Nw来校正由所述计数装置获得的计数结果；以及

算术装置(9)，用于根据由所述校正值计算装置校正的计数值，获得到所述测量目标的距离。

6.根据权利要求5所述的测距计，其中，所述信号获取设备是将激光束与光反馈之间的干涉光转换成电信号的光接收设备(2)。

7.根据权利要求5所述的测距计，其中，所述信号获取设备包括用于检测电信号的检测器(2，13)，所述电信号包含由激光束与光反馈之间的自混合效应引起的干涉波形。

8.根据权利要求7所述的测距计，其中，所述检测器包括将来自所述半导体激光器的光输出转换成电信号的光接收设备(2)。

9.根据权利要求7所述的测距计，其中，所述检测器包括用于检测所述半导体激光器的端子之间的电压的电压检测电路(13)。

10.根据权利要求5所述的测距计，其中，所述代表值计算装置计算中值、众数和平均值之一来作为代表值。

11.根据权利要求5所述的测距计，其中，所述校正值计算装置根据N′＝N+Nw-Ns，从所述计数装置的计数结果N中获得校正后的计数结果N′。

12.根据权利要求5所述的测距计，其中，所述校正值计算装置采用分别等于0.5和1.5的第一预定倍数和第二预定倍数，获得等级中的频率的总和Ns与Nw。