[发明专利]一种快速判别内外层瑕疵的检测方法与系统

说明书

技术领域

本发明是关于一种快速判别内外层瑕疵的检测方法与系统，特别指一种运用至少二个不同光源交错照射具有多层结构之一可透光待测物体后，再经由影像辨识方式快速判别该待测物体的内外层瑕疵的方法与系统。

背景技术

超薄显示器在现今社会中的运用，已十分普遍，大至户外电视墙、液晶电视、等离子电视、计算机的显示屏幕，小至手机屏幕、PDA的显示器以及MP3的显示屏幕等，日常生活中，几乎随处可见此种显示器的踪迹。

超薄显示器的成品，是由显示材料、玻璃基材及背光模块等所多种材料及结构贴合而成，制造超薄液晶显示设备的工艺非常复杂，通常可概分为三个阶段，依序为数组工艺(array process)、面板组装工艺(cell process)以及模块组装工艺(module assembly process)。简单来说，数组工艺会在一玻璃机板上形成一薄膜晶体管数组。面板工艺是将一彩色滤光片基板与数组工艺所完成的薄膜晶体管基板贴合，并于其内灌入液晶材料。而模块组装工艺而是将面板组装工艺所完成的面板模块与其他如背光模块(backlight module)、驱动电路以及外框等多种零件进行组装。由于超薄液晶显示设备是一项极精密的高科技产业，而且制造厂商的资本投资庞大，因此，对于产品的良率非常重视，所以，在目前大部分的工艺中，皆已具有一定的标准工艺及工艺中对半成品的各项检测工作，但是，仍难避免各种瑕疵的发生。

对于超薄显示器而言，视觉瑕疵的种类繁多，一般可依据瑕疵的面积与形状分为三类，包括点缺陷、线缺陷及面缺陷。无论何种瑕疵，就目前生产厂商的检测技术而言，均已可利用各种检测仪器或是检测方法，轻易发现瑕疵所在的位置及其形状。

但是，现行的各种检测技术，难以正确判断瑕疵发生在超薄显示器的内层背光模块、玻璃基材结构上或是外层的显示材料上，因而，厂商往往无法进行适当的处理与修补，使得有瑕疵的超薄显示器沦为次级品销售或予以作废，而现有判别瑕疵发生于内层结构上或是外层结构的方式，是对工艺中的产品，以随机抽样的方法，挑选有限数量的半成品或成品，将其内外层加以分离，逐层进行检测；此种破坏性的检测方式，无法对所有产品进行逐一检测，并不能真正提高生产厂商的产品良率，而且费时费工，也造成生产成本提高。

因此，针对于超薄显示器的视觉瑕疵，有必要提出一种简单又精准的方法与装置，除了可发现瑕疵所在的位置及其形状外，更可适当判别瑕疵发生在内层结构上或是外层结构上，方便制造厂商，对产品进行有效的进行处理与修补，以达成提升良率及降低成本的目的。

目前，就发明人所知，已有运用不同光源照射待测的超薄显示器，利用影像捕获设备的来回移动方式，线性扫描待测的超薄显示器，藉此取得至少两张不同光源照射下的影像信息，据以进行瑕疵分析，来判别瑕疵发生于内层结构上或是外层结构的方法。

然而，上述的检测方式，应用在现今讲求快速，分秒必争的生产在线，对生产效率的提升以及资源的有效使用上，仍然无法真正满足生产厂商的需求，故本发明特别提出一种只需对待测的超薄显示器进行单次行程扫描，可较上述的检测方式节省一半的时间，却仍能取得至少两张不同光源照射下的影像的方法与系统，可真正达成缩短检测时间，提升生产效率的目标。

发明内容

本发明的主要目的，在于提供一种快速判别内外层瑕疵的检测方法与系统，特别是指一种运用至少二不同光源交错照射具有多层结构的一可透光待测物体后，再经由影像辨识方式快速判别该待测物体的内外层瑕疵的方法与系统。用简单的检测方法与检测系统，可正确而快速的判断待测物体内外层瑕疵的效果，以有效解决目前现有的检测技术费时费事且效率不佳的问题。

本发明的一种快速判别内外层瑕疵的检测方法，其步骤包括提供具有多层结构的一可透光待测物体至少一背光装置以及至少一表面照明装置；利用一光源控制单元，选择性地调变背光装置及表面照明装置的照射光线，以提供待测物体至少一交错的照射光线；继而，提供至少一影像捕获设备，对该影像捕获设备进行初始化设定，并且与待测物体做相对位置校正；然后，以影像捕获设备对待测物体进行一次单向线性扫描，取得待测物体于交错照射光线下的一瑕疵影像；再经由一影像数据重组单元，将瑕疵影像分离重组为一总瑕疵影像以及一外层瑕疵影像；最后，通过一图像处理与分析单元，对该总瑕疵影像以及该外层瑕疵影像进行分析判别后，进而获得该待测物体的内层瑕疵影像。