[发明专利]可程控IC检测机台的程序规划方法有效

专利信息
申请号: 200810004343.X 申请日: 2008-01-22
公开(公告)号: CN101493496A 公开(公告)日: 2009-07-29
发明(设计)人: 吴吉米 申请(专利权)人: 致茂电子股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京明和龙知识产权代理有限公司 代理人: 郁玉成
地址: 台湾省桃园*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 程控 ic 检测 机台 程序 规划 方法
【权利要求书】:

1.一种可程控IC检测机台的程序规划方法,供操作者规划所述机台的执行程序,所述检测机台用于检测IC组件,其包括一电源,一处理装置,多个受所述电源致能、并接受所述处理装置控制的测试座,该方法包括下列步骤:

a) 提供一包括启始及结束的基础步骤流程;

b) 提供多个分别对应一组功能程序的附加程序模块;及

c) 接受所述操作者指令、插入至少下列附加程序模块至所述基础步骤流程之中,

—致能各所述测试座中的至少一个;

—终止致能所述至少一测试座;

—对经所述测试座检测IC组件进行分类;及

—介于所述致能所述测试座及所述终止致能所述测试座的附加程序模块之间,通过所述被致能测试座输入一测试数据信号至一设置于所述测试座上的待测IC组件,并获取来自所述测试座的结果数据信号的测试步骤附加程序模块,藉此构成所述机台的所述执行程序。

2.根据权利要求1所述的可程控IC检测机台的程序规划方法,所述处理装置还包括一显示屏,且所述程序模块分别具有一显示于所述显示屏上、且至少形成有一供输入指定参数组的指示参数输入字段的图像标示。

3.根据权利要求2所述的可程控IC检测机台的程序规划方法,其中所述指定参数组包括一供指定与所述程序模块对应连结的程序模块的流程序号的流程指示参数。

4.根据权利要求3所述的可程控IC检测机台的程序规划方法,其中所述指定参数组还包括一供标示对应所述程序模块的程序组群的操作条件的操作指示参数。

5.根据权利要求3所述的可程控IC检测机台的程序规划方法,其中所述指定参数组还包括一供标示对应所述程序模块的程序组群的显示条件的显示指示参数。

6.根据权利要求3所述的可程控IC检测机台的程序规划方法,其中所述附加程序模块还包括一指令所述处理装置进行判断的判断程序模块,且所述指定参数组还包括多个与所述判断程序模块对应连结的程序模块的流程序号的流程指示参数。

7.根据权利要求1所述的可程控IC检测机台的程序规划方法,其中所述测试和/或结果数据信号为一组电信号。

8.根据权利要求1所述的可程控IC检测机台的程序规划方法,其中所述测试数据信号为一组光信号。

9.根据权利要求1所述的可程控IC检测机台的程序规划方法,所述附加程序模块还包括一由多个附加程序模块组成的子程序模块。

10.根据权利要求2所述的可程控IC检测机台的程序规划方法,其中所述方法为由所述处理装置通过所述显示屏与所述操作者问答互动的精灵式程序规划方法。

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