[发明专利]成像装置及其放电降低方法无效

专利信息
申请号: 200810004347.8 申请日: 2008-01-22
公开(公告)号: CN101241333A 公开(公告)日: 2008-08-13
发明(设计)人: 金镇喆;郑贤善;梁裕锡;刘容柏 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G03G15/08 分类号: G03G15/08;G03G15/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 邵亚丽
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 成像 装置 及其 放电 降低 方法
【说明书】:

技术领域

本总的发明构思通常涉及一种成像装置及其放电降低方法,尤其是,涉及一种控制提供给显影设备的功率电平的成像装置,及其放电降低方法。

背景技术

成像装置基于打印数据形成图像。成像装置可以通过喷墨方法、电子照相的方法等等形成打印图像。该电子照相的成像装置通过由激光扫描单元(LSU)光扫描在感光的主体上形成静电潜像。然后,按照形成在感光的主体上的静电潜像,显影设备的墨粉被传送给感光的主体。传送滚轮将显影的墨粉传送给打印媒介以输出想要的打印图象。

该电子照相的成像装置可以通过无接触方法执行显影操作,其中在感光的主体和显影设备之间存在一个距离。在无接触显影方法中,由于在显影设备和感光的主体之间的电位差,具有极性的墨粉移动。

该图像密度和放电是通过在显影设备和感光的主体之间的该距离和电位差确定的。通常地,在二个电极之间存在一个电位差,在其间保留一个电介质。如果该电位差大于一个特定的阈值导致电介质的绝缘击穿,出现放电,即,在二个电极之间出现不希望有的电流。如果出现放电,朝着感光的主体的方向移动的该墨粉被中断,从而在打印的图像中造成错误。

图1举例说明在显影设备和感光的主体之间的距离D和气压P以及击穿电压Vbr之间的相互关系。如在其中举例说明的,该击穿电压Vbr与在显影设备和感光的主体之间的距离D和气压P的乘积成正比。该击穿电压Vbr是通过以下的公式1计算的:

[公式1]

Vbr=312.5+6.2PD

在这里,PD是在显影设备和感光的主体之间的距离D和气压P的乘积。在显影设备和感光的主体之间的距离D和电位差可以取决于安装过程差别、环境因素和成像装置由于长期使用的磨损而改变。因此,该击穿电压Vbr也据此改变。该常规的成像装置可以包括电位传感器以借助于该传感器检测电位,并且可以控制提供给显影设备的显影电压的电平。但是,该电位传感器是昂贵的,从而,降低价格竞争能力。

发明内容

本总的发明构思提供一种成像装置及其放电降低方法,该成像装置控制提供给显影设备的显影电压的电平作为由密度传感器检测的密度的函数,并且防止或者降低与安装过程差别和外界环境无关的放电的机会,避免需要昂贵的传感器,诸如电位传感器或者距离传感器。

本总的发明构思的其他的方面和/或效用部分将在随后的描述中阐述,并且部分从该描述中将是显而易见的,或者可以通过实践本总的发明构思获悉。

本总的发明构思的上述和/或其它的方面可以通过提供一种成像装置来实现,包括:图像成形设备,其包括感光的主体和显影设备以将显影剂施加于感光的主体;电源,其将显影电压提供给显影设备;检测器,其检测由图像成形设备形成的图像的密度;和控制器,如果检测的密度在容许范围之外,其控制电源以调整显影电压的电平。

该控制器可以控制图像成形设备去形成与至少一个检测密度的检测模式相对应的图像。

对应于该检测模式的图像可以具有至少50%的墨粉覆盖区域(TAC)。

该控制器可以基于具有另一个TAC的至少一个检测模式以一个TAC控制后续的图像打印的显影电压的电平。

该控制器可以控制该图像成形设备去在传送打印媒介的传送带和感光的主体的至少一个上形成对应于检测模式的图像。

该控制器可以在预先确定的步骤中降低或者提高提供给显影设备的最大显影电压和最小显影电压的至少一个。

本总的发明构思的上述和/或其它的方面还可以通过提供一种成像装置的放电降低方法来实现,其包括:图像成形设备,具有感光的主体和将显影剂施加于感光的主体的显影设备,该方法包括:提供电压给显影设备,由图像成形设备形成图像,检测形成的图像的密度,和如果检测的密度在容许范围之外,改变提供给显影设备的显影电压的电平。

该图像的形成可以包括形成与至少一个检测密度的检测模式相对应的图像。

对应于该检测模式的图像可以具有至少50%的墨粉覆盖区域(TAC)。

控制显影电压的电平可以包括基于具有另一个TAC的至少一个检测模式以一个TAC改变后续的图像打印的显影电压。

该图像的形成可以包括在传送打印媒介的传送带和感光的主体的至少一个上形成对应于检测模式的图像。

改变显影电压的电平可以包括在预先确定的步骤中降低或者提高提供给显影设备的最大显影电压和最小显影电压的至少一个。

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