[发明专利]用于射入高频场的装置有效

专利信息
申请号: 200810004979.4 申请日: 2008-01-31
公开(公告)号: CN101236238A 公开(公告)日: 2008-08-06
发明(设计)人: 拉兹万·拉扎尔;沃尔夫冈·伦兹;索尔斯滕·斯佩克纳 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01R33/341 分类号: G01R33/341
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 谢强
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 射入 高频 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种在磁共振设备中将高频场射入检查对象的装置。

背景技术

在磁共振断层造影或核自旋断层造影中,向检查对象施加尽可能均匀的静态基本磁场。该基本磁场由磁共振设备的基本磁场磁铁产生。

在拍摄磁共振图像期间,向基本磁场叠加用于位置编码的快速通断的梯度场。该梯度场由梯度线圈产生。

利用高频天线将具有特定场强的高频脉冲射入检查对象体内。该高频脉冲的磁通密度通常用B1表示,脉冲形状的高频场简称为B1场。通过该高频脉冲在检查对象体内触发磁共振信号,该磁共振信号由高频接收天线接收。

引起激励的B1场的场强在时间和空间上的波动可能导致错误的测量结果。这种不期望的波动尤其是在磁通密度超过1.5特斯拉时会引起干扰。

为了接收磁共振信号采用固定安装在磁共振设备中或者实施为可运动的所谓“本地线圈单元”的高频接收天线。本地线圈单元有针对性地定位在检查区域附近,由此可以改善测量结果。

DE10345176A1公开了一种设备,其中磁共振设备的本地线圈单元的外壳这样构成,即该外壳的至少一部分具有绝缘介电物质。由此可以通过无源的方式补偿B1场的非均匀性,以改善对检查对象的测量。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于提供一种本文开头所述类型的装置,利用该装置进一步改善对B1场的非均匀性的无源补偿。

按照本发明的用于将高频场射入检查对象内的装置包括具有外壳的本地线圈单元。在该外壳的至少一部分上设置绝缘的介电物质,以无源地补偿检查对象体内出现的B1场的非均匀性。在该外壳部分上设置调节装置,该调节装置用于固定但是可拆卸地安放该绝缘介电物质。

由此使得可以改变绝缘介电物质的设置或改变该物质的电特征值,以允许进行可灵活调节的补偿。换句话说,该绝缘的介电物质可更换地设置在外壳的部分上。

通过本发明的装置可以通过迭代灵活地调节补偿。

在此,最佳的补偿例如可以通过操作人员本人进行,以便根据对测量结果的要求最佳地显示所选择的各个(子)区域,或者以便获得更大的检查区域的最佳显示。

例如可以通过适应性地更改绝缘介电物质,在图像显示中非常清晰和/或明亮地成像出更大检查区域的选出的子区域,而其余的检查区域则相应地在该再现图像中被忽略。

换句话说,通过物质的改变以及由此引入的对B1场的补偿使得可以在检查期间也能在图像显示中进行特定于用户的聚焦。

绝缘介电物质就其体积和/或介电常数或漏泄电导来说与待检查的对象匹配。尤其有利的是,该匹配取决于检查期间的内容而进行。

在同时采用多个大小、体积和电值可能不同的该物质,则出现相应的最终值。由此可以进行非常精细的匹配。

为了更改体积可以将该物质实施为平板形状,以便将该物质作为外壳的一部分堆叠起来或者堆叠在外壳内。

通过更改该平板的厚度和/或面积,调节出各种合适的体积。

在堆叠该平板时,还可以借助平板之间的预知空气隙影响最终的漏泄电导。

在一优选的实施方式中,所述物质具有大于50、优选大于100的相对介电常数εr

在另一优选实施方式中,所述物质具有小于2.5×10-2、优选小于1×10-3的介质损耗因数tanδ。

在本地线圈单元的另一个优选实施方式中,所述物质实施为尽可能闭合的平面,该平面的面积优选为100cm2至500cm2。该面积相当于导致B1场衰减的涡流的大小。

附图说明

下面借助附图详细解释本发明。

图1示出磁共振设备的检查区域的横截面,

图2示出检查区域的纵截面,

图3A-3F从示出更改补偿的原理结构,

图4A-4E示出物质的漏泄电导和/或体积的变化,

图5至图7示出单个平板的介电共振,

图8和图9示出具有用于衰减耦合的空气隙的堆叠平板的介电共振,

图10至图12示出没有空气隙、即具有强耦合的堆叠平板的介电共振。

具体实施方式

图1示出磁共振设备的检查区域1的横截面,其中用体线圈单元5和脊柱线圈单元7对患者3进行检查。

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