[发明专利]影像撷取组件及其制造方法无效
申请号: | 200810005013.2 | 申请日: | 2008-01-28 |
公开(公告)号: | CN101500079A | 公开(公告)日: | 2009-08-05 |
发明(设计)人: | 卢忻杰 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H04N5/225 | 分类号: | H04N5/225;G02B7/02 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 任永武 |
地址: | 台湾省高雄市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 影像 撷取 组件 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明有关一种影像撷取组件及其制造方法,且特别是有关一种以承座承载透镜组的影像撷取组件及其制造方法。
背景技术
随着各种电子产品朝向“轻、薄、短、小”的趋势,各种影像撷取组件不断地朝向微小化发展。在影像撷取组件中,其主要组件是一电路板、一电子组件及一透镜组。电子组件是设置于电路板上,透镜组则设置于电子组件上。光线经由透镜组后,即可聚焦于电子组件上,以获得影像信息。
一般而言,光学组件对于精密度的要求甚高。因此在影像撷取组件的组装过程中,必须经过一连串的光学测试,以确保组装后的影像撷取组件可正常运作。
在光学测试的过程中,不容许有部分组件松动。若有部分组件松动,不仅将影响测试结果,还影响最终产品良率。因此,通常在光学测试之前,即以胶体将各个组件粘合,以维持各个组件的稳定性。
然而,在已粘合的影像撷取组件中,可能发现若干不良品。由于部分组件已经粘合,故这些组件将无法返工,不仅造成材料成本的浪费,更影响产品的良率。
因此,如何提出一种影像撷取组件及其制造方法,以降低制造成本并提高产品良率,实为目前研究发展的一重要方向。
发明内容
本发明的目的是提供一种影像撷取装置及其制造方法,其利用承座的卡勾与电路板的卡合孔的配合,以降低制造成本并提高产品良率。
根据本发明的一方面,提出一种影像撷取组件。影像撷取组件包括一电路板、一电子组件、一透镜组及一承座。电路板具有至少一卡合孔。电子组件设置于电路板上。承座设置于电路板上,用以承载透镜组。承座包括至少一卡勾,卡勾卡合于电路板上的卡合孔。
根据本发明的另一方面,提出一种影像撷取组件的制造方法。影像撷取组件的制造方法包括:提供一电路板,电路板具有至少一卡合孔。设置一电子组件于电路板上。设置一透镜组及一承座于电路板上。透镜组承载于承座上。承座包括至少一卡勾。承座是以卡勾卡合卡合孔。测试电子组件及透镜组。
附图说明
为让本发明的上述内容能更明显易懂,下面将配合附图对本发明的较佳实施例进行详细说明,其中:
图1绘示本发明较佳实施例的影像撷取组件的制造方法的流程图;
图2A~2F绘示依照图1的各步骤的示意图;
图3A~3F绘示依照图2A~2F的另一视角的示意图;
图4绘示图3A~3F的透镜组、承座及电路板的Y-Z平面示意图;以及
图5绘示图3A~3F的透镜组、承座及电路板的Y-Z平面的另一示意图。
具体实施方式
请同时参照图1、图2A~2F及图3A~3F,图1绘示本发明较佳实施例的影像撷取组件100的制造方法的流程图,图2A~2F绘示依照图1的各步骤的示意图,图3A~3F绘示依照图2A~2F的另一视角的示意图。首先,请参照图2A及3A,在步骤102中,提供一电路板110。电路板110例如是一电路板连片(未绘示)的其中一电路板。数个影像撷取组件100可直接在一电路板连片上制作,待这些影像撷取组件100制作完成后,再切割电路板连片,即可形成数个影像撷取组件100。
电路板110具有至少一卡合孔110a。卡合孔110a的数量及设置位置可依据电路板110的线路设计或所欲达到的结构强度来设计。如图2A及3A所示,本实施例的电路板110是矩形结构,其具有四侧边L1、L2、L3、L4。其中一侧边L4用以设置数个长条状导电接垫(又称金手指),故此一侧边L4不适合设置卡合孔110a。在本实施例中,电路板110即以三个卡合孔110a分别设置于三侧边L1、L2、L3为例做说明,且三个卡合孔110a皆为三个侧边L1、L2、L3的凹口。
接着,请参照图2B及3B,在步骤104中,设置一电子组件120于电路板110上。电子组件120可以是芯片或被动组件,且电子组件120可设置于电路板110的正面或背面,或者设置于两面。在本实施例中,电子组件120是一影像撷取芯片,例如是一互补式金属-氧化层-半导体(ComplementaryMetal-Oxide-Semiconductor,CMOS)或电荷耦合组件(charge-coupled device,CCD)。各种电子组件120均适用于本实施例的影像撷取组件100。
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