[发明专利]利用布里渊散射的频谱测定装置及测定方法

权利要求书

1.一种频谱测定装置，其测定与对象物邻近的光纤内产生的布里渊散射光的频谱变化，

其特征在于，具有：

光源，其输出用于向上述光纤的两端相对地入射的泵浦光及探测光；

探测光输出端，其用于将从上述光源输出的探测光向上述光纤的一端供给；

泵浦光输出端，其用于将从上述光源输出的泵浦光向上述光纤的另一端供给；

分析部，其对通过上述泵浦光在上述光纤中传输产生的布里渊散射而使上述探测光得到的增益进行分析；以及

判断部，其基于上述分析部的分析结果，判断与上述光纤的温度或变形有关的状态，

将在上述光纤内传输的上述泵浦光和上述探测光之间的频率差设定在频率差设定范围内，该频率差设定范围是包含基准增益频谱中取得峰值的频率差在内的范围、且小于或等于上述基准增益频谱的谱线宽度，该基准增益频谱是在上述光纤的温度或变形处于基准状态时上述探测光得到的增益的频谱。

2.根据权利要求1所述的频谱测定装置，其特征在于，还具有：

光纤，其作为传感器部，用于传输上述探测光和上述泵浦光。

3.根据权利要求1所述的频谱测定装置，其特征在于，还具有：

第1连接器，其使上述光纤的一端与上述探测光输出端光学连接；以及

第2连接器，其使上述光纤的另一端与上述泵浦光输出端光学连接。

4.根据权利要求1所述的频谱测定装置，其特征在于，还具有：

警报信号输出部，其基于上述判断部的判断结果，输出报告上述光纤的温度或变形的异常的警报信号。

5.根据权利要求4所述的频谱测定装置，其特征在于，

上述分析部将与包括在上述频率差设定范围内的频率差相对的上述探测光得到的增益的频谱进行分析，然后，

上述判断部，基于在上述分析部分析出的增益频谱中有无极大值，判断上述光纤中有无异常。

6.根据权利要求4所述的频谱测定装置，其特征在于，

上述分析部针对包括在上述频率差设定范围内的2个频率差，分别分析上述探测光得到的增益，然后，

上述判断部，通过将由上述分析部分析出的2个增益的比值与预先设定的基准比值进行比较，判断上述光纤中有无异常。

7.根据权利要求4所述的频谱测定装置，其特征在于，

上述分析部针对包括在上述频率差设定范围内的1个频率差，分析上述探测光得到的增益，然后，

上述判断部，通过将由上述分析部分析出的1个增益与预先设定的基准值进行比较，判断上述光纤中有无异常。

8.根据权利要求2所述的频谱测定装置，其特征在于，还具有：

第1耦合器，其将从上述光源输出的泵浦光和探测光进行分支；

延迟单元，其对由上述第1耦合器分支出的泵浦光或探测光施加延迟后，输出至上述光纤；

第2耦合器，其用于取出在上述光纤中得到增益并从上述光纤输出的探测光；以及

光电二极管，其对由上述第2耦合器取出的探测光进行感光，

上述光源包括1台交替输出上述泵浦光及上述探测光的光源。

9.一种频谱测定方法，其特征在于，

将上述光纤至少配置在对象物附近，

从所配置的上述光纤两端相对地入射探测光和泵浦光，同时使用权利要求1中的频谱测定装置测定上述对象物的物理量变化，然后，

基于测定结果，检测上述对象物的异常。