[发明专利]先进的磁性随机存取记忆体设计无效
申请号: | 200810006260.4 | 申请日: | 2008-02-04 |
公开(公告)号: | CN101304039A | 公开(公告)日: | 2008-11-12 |
发明(设计)人: | 林文钦;郑旭辰;王郁仁;邓端理 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/22 | 分类号: | H01L27/22;H01L23/522;G11C11/02;G11C11/15;G11C11/16 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 章社杲;吴贵明 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 先进 磁性 随机存取 记忆体 设计 | ||
1.一种集成电路记忆体芯片,包含:
第一记忆胞阵列,包含高速磁性记忆胞阵列;以及
第二记忆胞阵列,紧邻所述第一记忆胞阵列,所述第二记忆胞阵列包含高密度磁性记忆胞阵列。
2.根据权利要求1所述的记忆体芯片,其中就每一磁性阻堆叠,所述每一高速磁性记忆胞与所述每一高密度磁性记忆胞包含切换装置。
3.根据权利要求1所述的记忆体芯片,其中,在所述高速磁性记忆胞与所述高密度磁性记忆胞中的磁性阻堆叠包含磁性穿隧接面堆叠。
4.根据权利要求1所述的记忆体芯片,进一步包含与所述高速记忆体阵列中的磁性记忆胞一起使用的第一阵列逻辑,与所述高密度记忆体阵列中的磁性记忆胞一起使用的第二控制阵列逻辑。
5.根据权利要求4所述的记忆体芯片,进一步包含接合所述高速记忆体阵列与所述第一阵列逻辑的第一组导线,以及接合所述高密度记忆体阵列与所述第二阵列逻辑的第二组导线。
6.根据权利要求5所述的记忆体芯片,其中,所述第一组导线与所述第二组导线每一个包含至少一位线、字线与程式线。
7.根据权利要求5所述的记忆体芯片,其中,所述第一组导线与所述第二组导线共有至少一类型的导线。
8.一种集成电路记忆体芯片,包含:
第一记忆胞阵列,包含高速磁性记忆胞阵列,其中就磁性阻堆叠,每一所述高速磁性记忆胞包含切换装置;
第二记忆胞阵列,紧邻所述第一记忆胞阵列,所述第二记忆胞阵列包含高密度磁性记忆胞阵列,其中就每至少两个磁性阻堆叠,每一所述高密度磁性记忆胞包含切换装置;
与所述高速记忆体阵列中的磁性记忆胞一起使用的第一阵列逻辑;
与所述高密度记忆体阵列中的磁性记忆胞一起使用的第二控制阵列逻辑;
接合所述高速记忆体阵列与所述第一阵列逻辑的第一组导线;以及
接合与所述高密度记忆体阵列与所述第二阵列逻辑的第二组导线。
9.一种集成电路记忆体芯片,包含:
第一记忆胞阵列,包含高速磁性记忆胞阵列,其中就每一磁性阻堆叠,每一所述高速磁性记忆胞包含至少一切换装置;
第二记忆胞阵列,紧邻所述第一记忆胞阵列,所述第二记忆胞阵列包含高密度磁性记忆胞阵列,其中就每至少两个磁性阻堆叠,每一所述高密度磁性记忆胞包含切换装置;
与所述高速记忆体阵列中的磁性记忆胞与所述高密度记忆体阵列中的磁性记忆胞一起使用的阵列逻辑;
接合所述高速记忆体阵列与所述阵列逻辑的第一组导线;以及
接合所述高密度记忆体阵列与所述阵列逻辑的第二组导线。
10.根据权利要求9所述的记忆体芯片,其中,所述阵列逻辑进一步包含与所述高速记忆体阵列中的磁性记忆胞一起使用的第一阵列逻辑,以及另外与所述高密度记忆体阵列中的磁性记忆胞一起使用的第二阵列逻辑。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的