[发明专利]影像位移侦测方法无效

专利信息
申请号: 200810006321.7 申请日: 2008-02-26
公开(公告)号: CN101520699A 公开(公告)日: 2009-09-02
发明(设计)人: 张进邦;戴文村 申请(专利权)人: 义隆电子股份有限公司
主分类号: G06F3/038 分类号: G06F3/038
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 王雪静;逯长明
地址: 台湾省新竹科*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 影像 位移 侦测 方法
【权利要求书】:

1、一种影像位移侦测方法,包括下列步骤:

(A)撷取一影像;

(B)判断一第一时间影像是否存在,如果为真则将该步骤(A)的影像储存成一第二时间影像,以及跳入步骤(C)继续执行,如果为伪则将该步骤(A)的影像储存成该第一时间影像,然后返回该步骤(A);

(C)判断一前次影像位移向量是否存在,如果为真则跳入步骤(D),如果为伪则执行:

(c1)利用该第一时间影像的中心位置,决定为一M*M影像比对基准区块的中心位置,其中该M>0;

(c2)对该第二时间影像进行搜寻比对,以在该第二时间影像中找到与该影像比对基准区块最匹配或相同的子区块;

(c3)依据该子区块位于该第二时间影像的位置以及该影像比对基准区块位于该第一时间影像的位置,计算以获得目前影像位移向量,然后返回该步骤(A);

(D)判断该前次影像位移向量的X轴位移量是否小于等于一最大X轴位移量并且该前次影像位移向量的Y轴位移量是否小于等于一最大Y轴位移量,如果为真则跳入步骤(E1)继续执行,如果为伪则跳入步骤(F1)继续执行;

(E1)利用该第一时间影像的中心位置为起点,以该前次影像位移向量反方向位移处,决定为该M*M影像比对基准区块的中心位置;

(E2)对该第二时间影像进行搜寻比对,以在该第二时间影像中找到与该影像比对基准区块最匹配或相同的子区块;

(E3)依据该子区块位于该第二时间影像的位置以及该影像比对基准区块位于该第一时间影像的位置,计算以获得目前影像位移向量,然后返回该步骤(A);

(F1)如果该前次影像位移向量的X轴位移量大于该最大X轴位移量,则将该X轴位移量设定为等于该最大X轴位移量;以及如果该前次影像位移向量的Y轴位移量大于该最大Y轴位移量,则将该Y轴位移量设定为等于该最大Y轴位移量;

(F2)利用该第一时间影像的中心位置为起点,以完成该步骤(F1)的该前次影像位移向量反方向位移处,决定为该M*M影像比对基准区块的中心位置;

(F3)对该第二时间影像进行搜寻比对,以在该第二时间影像中找到与该影像比对基准区块最匹配或相同的子区块;

(F4)依据该子区块位于该第二时间影像的位置以及该影像比对基准区块位于该第一时间影像的位置,计算以获得目前影像位移向量,然后返回该步骤(A)。

2、如权利要求1所述的影像位移侦测方法,其特征在于:该M值大小,是依据一传感器而决定。

3、如权利要求1所述的影像位移侦测方法,其特征在于:该最大X轴位移量以及该最大Y轴位移量,是依据一传感器而分别决定其数值大小。

4、如权利要求1所述的影像位移侦测方法,其特征在于:该最大X轴位移量与该最大Y轴位移量,皆储存成(N-M)/2,其中N*N阵列为一传感器的感应矩阵大小,以及其中M小于N。

5、一种影像位移侦测方法,应用一传感器,包括下列步骤:

(A)如果一前次影像位移向量的X轴位移量大于一最大X轴位移量,则将该X轴位移量设定为等于该最大X轴位移量;以及如果该前次影像位移向量的Y轴位移量大于一最大Y轴位移量,则将该Y轴位移量设定为等于该最大Y轴位移量;

(B)利用一第一时间影像的中心位置为起点,以完成该步骤(A)的该前次影像位移向量反方向位移处,决定为一M*M影像比对基准区块的中心位置;

(C)对一第二时间影像进行搜寻比对,以在该第二时间影像中找到与该影像比对基准区块最匹配或相同的子区块;

(D)依据该子区块位于该第二时间影像的位置以及该影像比对基准区块位于该第一时间影像的位置,计算以获得目前影像位移向量。

6、如权利要求5所述的影像位移侦测方法,其特征在于:该M值大小,是依据该传感器而决定。

7、如权利要求5所述的影像位移侦测方法,其特征在于:该最大X轴位移量以及该最大Y轴位移量,是依据该传感器而分别决定其数值大小。

8、如权利要求5所述的影像位移侦测方法,其特征在于:该最大X轴位移量与该最大Y轴位移量,皆储存成(N-M)/2,其中N*N阵列为该传感器的感应矩阵大小,以及其中M小于N。

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