[发明专利]用于计数鳞片流印刷产品的装置无效

专利信息
申请号: 200810009454.X 申请日: 2008-02-02
公开(公告)号: CN101236614A 公开(公告)日: 2008-08-06
发明(设计)人: A·泽姆普 申请(专利权)人: 米勒·马蒂尼控股公司
主分类号: G06M7/10 分类号: G06M7/10;G01B11/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 李永波
地址: 瑞士黑*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 用于 计数 鳞片 印刷 产品 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种用于计数鳞片流印刷产品的装置,具有一个用于获得在鳞片流输送方向的横向上指向的印刷产品棱边的第一测量机构并且具有一个评价单元,它为了计数印刷产品接收第一测量机构的信号。

背景技术

在现有技术中由US 4,384,195已知这种形式的装置。通过这个装置可以在发送前计数例如以鳞片流输送的报纸。为此具有一个测量机构,它具有一个激光器,它使光线倾斜于鳞片流对准。该光线在每个向前移动的棱边上反射到接收器,该接收器发射相应的信号给一个评价单元。在两个相邻的棱边之间使光线在相应印刷产品的表面上这样反射,使光线不进入上述的接收器。因此使测量机构分别计数各印刷产品或报纸向前移动的棱边。

目前在这个装置中存在困难,为了达到精确的计数结果必需存在最小的鳞片间距。两个位于前后的印张和具有非常小的鳞片间距的印张由这个装置分别作为单个的印刷产品计数。因此通过这个装置对于不均匀的鳞片流产生计数错误。因此可能从印数开始就不足够地监控委托合同。不精确的计数结果的缺陷是,可能导致多生产或少生产并由此导致附加的成本。

通过EP 1 201 582 A2已知一个用于监控印张的装置。但是在这个装置中不涉及计数印刷产品,而是涉及检测错误印张。为了检测这些错误印张具有一个包括一个电容传感器和至少一个超声波传感器的装置。通过光线测量值发生器的输出信号决定,印张是否通过光线或电容测量值发生器监控。通过这个装置不仅能够监控薄的印张而且监控厚的印张。

EP 1 403 202 A1公开了一种用于使检测印张的传感器在印张加工设备中运行的方法。在这个方法中涉及能够在印张加工设备中尽可能精确且可靠地区别不同叠摞高度的单印张和多印张。为此具有两个不同的传感器。两个传感器分别检测印张的叠摞高度。这个方法同样不用于计数产品。

发明内容

本发明的目的是,实现一个上述形式的装置,它对于不均匀的鳞片流也能够实现更高的计数精度。

这个目的在上述装置中由此得以实现,具有一个第二测量机构,它检测偏离印刷产品棱边的鳞片流的特性,并且可以以第二测量机构的测量结果通过评价单元修正第一测量机构的计数结果。第一测量机构如同目前公知的那样检测扁平产品的棱边而第二测量机构通过一个间隔测量器检测鳞片流的包络线。为了避免由于检测在报纸或杂志中典型的棱边变形的检测机构双重地检测一个产品,在一个确定的时间间隔、也称为无效时间期间不评价其它信号。由此对于向前移动的棱边具有非常小的间距或者位于上下的两个衔接的产品由第一测量机构作为一个产品计数。现在第二测量机构将这两个产品由于其双重厚度作为两个产品识别。通过第二测量机构的一个附加的计数脉冲的输出修正第一测量机构的计数结果,由此最终使计数结果正确。本发明的另一优点是,由于较高的计数精度也可以避免少产品作为多产品。所述产品最好是印刷产品,例如报纸、杂志、小报或者单页。但是本发明也适用于其它以鳞片流输送的扁平产品。

通过按照本发明的装置也可以可靠地计数鳞片流,该鳞片流具有一个直到1.5m/s的速度和一个平均30mm的最小鳞片间距。因此对于这种鳞片流循环时间约为20ms。所述鳞片流的产品例如可以是单页或者也可以是折页、多折印张或者杂志如小报。但是印刷产品也可以是不同的,即,前后衔接的印刷产品可以是不同的,例如不同地印刷。

按照本发明的一个改进方案这样构成第一测量机构,使所述第一测量机构检测鳞片流或产品的向前移动的棱边。这个机构可以是无接触或者也可以是接触的系统,例如一个探测轮。作为无接触的测量机构优选具有一个光源,它对准鳞片流并且它与两个光接收器一起工作。一个光接收器接收在印刷产品棱边上反射的光。作为无接触的第一测量机构也可以设想其它的光电装置、例如一个具有图形处理的摄像机。

第二测量机构同样可以是无接触的或者是一个机械接触的系统。例如第二测量机构可以是一个公知的机械探测轮或者流量秤。作为无接触的测量机构可以设想电容的传感器或者例如超声波传感器以及激光间隔传感器。如果第二测量机构按照本发明的改进方案检测鳞片流的包络线,则可以特别可靠地修正第一测量机构的计数结果。这个包络线对应于鳞片流的厚度曲线。具有特别小的鳞片流间距的相邻印刷产品或者直接位于上下的印刷产品在相应的位置上产生一个特别厚的鳞片流厚度并因此可以通过第二测量机构检测。

所述第二测量机构最好通过公知的学习算法调整到产品厚度。最好通过第一测量机构触发第二测量机构。

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