[发明专利]显示面板、检查该显示面板的方法及其制造方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示面板、检查该显示面板的方法及其制造方法。更具体地，本发明涉及能够容易地检查短路缺陷的显示面板、检查该显示面板的方法及其制造方法。

背景技术

通常，在各种平板显示设备中，与其它显示设备比如阴极射线管(“CRT”)设备、等离子显示面板(“PDP”)设备等相比，液晶显示(“LCD”)设备具有各种优点，例如厚度薄、重量轻、低驱动电压和低功率消耗等。结果，LCD设备广泛地用于各种电子设备，例如监视器、膝上型计算机、便携式电话等。LCD设备包括LCD面板，其利用液晶分子的光透过率显示图像，以及设置在LCD面板下面向LCD面板提供光的背光组件。

LCD面板包括阵列衬底、对向衬底(opposite substrate)和液晶层。该阵列衬底包括多个信号布线、多个薄膜晶体管(“TFT”)和多个像素电极。该对向衬底面对阵列衬底并具有公共电极。液晶层插入在阵列衬底和对向衬底之间。

LCD面板可以具有触摸面板功能，其可以通过外部压力接收位置数据。换言之，如果LCD面板的屏幕由电子笔或者手指触摸，那么该LCD面板可以向主系统的中央处理器传送位置数据信号。

LCD面板进一步包括附加传感器布线以便执行触摸面板功能。换言之，在阵列衬底内形成传感器布线以向中央处理器提供当阵列衬底和对向衬底彼此接触时产生的位置数据。

如果LCD面板没有被电子笔或者手指触摸，那么阵列衬底和对向衬底应当彼此不短路。然而，即使LCD面板没有被电笔或者手指触摸，阵列衬底和对向衬底仍旧在阵列和对向衬底的一部分内彼此短路。

如上所述，当阵列衬底和对向衬底彼此短路时，在触摸面板内产生故障，并降低图像的显示质量。因此，需要阵列衬底和对向衬底是否彼此短路的检查方法。

然而，为了检查阵列衬底和对向衬底是否短路，包括多个晶体管的完整检查电路形成在阵列衬底内。然而，当该检查电路形成在阵列衬底内时，用于驱动电路，比如栅极驱动电路的空间减小，以致显示区域减小。

发明内容

本发明提供了能够通过简化测试电路容易地检查短路缺陷的显示面板。

本发明还提供了检查上述显示面板的方法。

本发明也提供了制造上述显示面板的方法。

在示范性实施例中，显示面板包括阵列衬底、对向衬底和液晶层。该对向衬底面对阵列衬底。该对向衬底包括接收公共电压的公共电极。该液晶层插入在阵列衬底和对向衬底之间。

阵列衬底包括栅极布线、数据布线、像素部分、传感器布线部分、传感器电极部分和传感器焊盘部分。该栅极布线基本上在第一方向形成。该数据布线基本上在与第一方向交叉的第二方向形成。该像素部分电连接到栅极布线和数据布线。该传感器布线部分与栅极布线和数据布线分离。该传感器电极部分电连接到传感器布线部分。该传感器焊盘向传感器布线部分施加测试电压以便检查显示面板缺陷。

该阵列衬底可以分为第一区域和第二区域，该对向衬底与第一区域一致设置，该像素部分和传感器电极部分形成在第一区域上，该传感器焊盘部分设置在第二区域上。该像素部分包括电连接到栅极布线和数据布线的薄膜晶体管(“TFT”)，以及电连接到TFT的像素电极。

测试电压基本上等于用于截止TFT的栅极截止电压。在具有面板缺陷的显示面板部分，公共电极接触传感器电极部分，并接收公共电压和测试电压之间的电压。

阵列衬底进一步包括开关部分和开关控制焊盘。该开关部分设置在传感器布线部分和传感器焊盘部分之间。该开关部分可导通或截止传感器布线部分和传感器焊盘部分之间的电连接。该开关控制焊盘电连接到开关部分以便施加用于控制开关部分的控制电压。

该传感器布线部分包括基本上与数据布线平行形成的第一传感器布线，以及基本上与栅极布线平行形成的第二传感器布线。该传感器电极部分包括电连接到第一传感器布线的第一传感器电极，以及电连接到第二传感器布线的第二传感器电极。该传感器焊盘部分包括电连接到第一传感器布线的第一传感器焊盘，以及电连接到第二传感器布线的第二传感器焊盘。

测试电压包括施加到第一传感器焊盘的第一测试电压和施加到第二传感器焊盘的第二测试电压。该第一测试电压与第二测试电压不同。

在另一个示范性实施例中，提供了检查显示面板的方法。该显示面板的检查方法包括向电连接到显示面板的传感器布线部分的传感器焊盘部分施加测试电压，通过观察显示图像，确定在显示面板内，显示面板的短路缺陷是否产生，并向电连接到栅极布线和数据布线的显示测试焊盘部分施加测试图像信号，并确定在显示面板内是否产生显示缺陷。