[发明专利]自动分析装置有效
申请号: | 200810009893.0 | 申请日: | 2008-02-27 |
公开(公告)号: | CN101256194A | 公开(公告)日: | 2008-09-03 |
发明(设计)人: | 圷正志 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01N33/48 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 钟晶 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
1.一种自动分析装置,其具备:分析样品的分析单元;将样品架传送至所述分析单元的传送装置,该样品架载放保持所述样品的样品容器;将样品架投入到该支架传送装置的支架投入口;将精度管理试样以设置于所述支架的状态来保持在装置内的机构,
其特征在于,具备输送控制设备,使得标准试样被投入到装置内时,对于精度管理试样生成与标准试样的委托项目相应的规定的测定委托,在标准试样后分析被保持在装置内的精度管理试样。
2.一种自动分析装置,其具备:分析样品的分析单元;将样品架传送至所述分析单元的传送装置,该样品架载放保持所述样品的样品容器;将样品架投入到该支架传送装置的支架投入口;将精度管理试样以设置于所述支架的状态来保持在装置内的机构,其能够设置多个同一项目的试剂,在正在使用的试剂达到第1规定条件的时刻,能够自动切换为待机中的其他试剂,
其特征在于,具备输送控制设备,使得在正在使用的试剂的余量成为第2规定的条件的时刻,对于待机中的试剂,生成精度管理试样的测定委托,分析保持在装置内的精度管理试样。
3.一种自动分析装置,其具备:分析样品的分析单元;将样品架传送至所述分析单元的传送装置,该样品架载放保持所述样品的样品容器;将样品架投入到该支架传送装置的支架投入口;将精度管理试样以设置于所述支架的状态来保持在装置内的机构,
其特征在于,具备输送控制设备,使得在识别日期改变的时刻,生成与保持在装置内的精度管理试样相应的规定的测定委托,分析所述精度管理试样。
4.一种自动分析装置,其具备:分析样品的分析单元;将样品架传送至所述分析单元的传送装置,该样品架载放保持所述样品的样品容器;将样品架投入到该支架传送装置的支架投入口;将精度管理试样以设置于所述支架的状态来保持在装置内的机构,
其特征在于,具备输送控制设备,使得在识别成为规定时间的时刻,生成与保持在装置内的精度管理试样相应的规定的测定委托,分析所述精度管理试样。
5.一种自动分析装置,其具备:分析样品的分析单元;将样品架传送至所述分析单元的传送装置,该样品架载放保持所述样品的样品容器;将样品架投入到该支架传送装置的支架投入口;将精度管理试样以设置于所述支架的状态来保持在装置内的机构,
其特征在于,具备输送控制设备,使得在识别装置的操作者改变的时刻,生成与保持在装置内的精度管理试样相应的规定的测定委托,分析所述精度管理试样。
6.一种自动分析装置,其具备:分析样品的分析单元;将样品架传送至所述分析单元的传送装置,该样品架载放保持所述样品的样品容器;将样品架投入到该支架传送装置的支架投入口;将精度管理试样以设置于所述支架的状态来保持在装置内的机构,
其特征在于,具备输送控制设备,使得每个检查项目中,识别出由上次分析精度管理试样的时刻经过了规定时间,生成待机中的精度管理试样的测定委托,分析保持在装置内的精度管理试样。
7.一种自动分析装置,其具备:分析样品的分析单元;将样品架传送至所述分析单元的传送装置,该样品架载放保持所述样品的样品容器;将样品架投入到该支架传送装置的支架投入口;将精度管理试样以设置于所述支架的状态来保持在装置内的机构,
其特征在于,具备输送控制设备,使得每个检查项目中,识别出由上次分析精度管理试样的时刻分析了规定样品数,生成待机中的精度管理试样的测定委托,分析保持在装置内的精度管理试样。
8.一种自动分析装置,其具备:分析样品的分析单元;将样品架传送至所述分析单元的传送装置,该样品架载放保持所述样品的样品容器;将样品架投入到该支架传送装置的支架投入口;将精度管理试样以设置于所述支架的状态来保持在装置内的机构,
其特征在于,具备控制设备,使得对于每个保持在装置内的精度管理试样,识别出从所述精度管理试样投入的时刻经过了规定的时间,不进行该精度管理试样的分析。
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