[发明专利]一种便携式金属元素分析仪无效
申请号: | 200810013223.6 | 申请日: | 2008-09-17 |
公开(公告)号: | CN101349662A | 公开(公告)日: | 2009-01-21 |
发明(设计)人: | 张伟;龚亚林;侯朝勤;尹毅强;卢元利;尹德有;尚庆敏;刘辉;周洪军;赵晶;李岩峰;于海明;蒋宝庆 | 申请(专利权)人: | 丹东东方测控技术有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 沈阳杰克知识产权代理有限公司 | 代理人: | 孙国瑞 |
地址: | 118002辽宁省*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 便携式 金属元素 分析 | ||
技术领域
本发明涉及一种金属元素分析装置,具体说涉及一种X射线分析检测仪表。
技术背景
目前有色金属行业的野外探矿、采矿,一般都是勘探人员在野外进行实地采样,然后带回实验室进行破碎、研磨、筛分,然后进行化学分析。通过矿样的元素含量数据以及取样地点的分布,确定矿脉,或者决定是否值得开采。但是在采样时,无法确切知道该处矿石的元素含量,只能通过经验判断,结果造成了很多有用元素含量低的矿石被采集处理,造成浪费,还耽误了时间。
而目前已有的手持式X射线荧光分析仪,主要针对几种特定元素(多为Cd、Cr、Pb、Hg、Br)的含量进行分析,不能对矿石中含有哪些未知元素进行分析。而且所采用的激发源是X射线管,在工作时需要几万伏的工作电压,给手持操作者带来一定的危险性,并且增加了电源消耗量,减少了无外接电源条件下的使用时间。此外所采用的探测器也多为正比计数管,能量分辨率不高,测量分析精度低。
发明内容
针对以上问题,本发明提供一种携带方便的,能够直接分析出矿石中金属元素,具有较高能量分辨率的矿石金属元素分析检测装置。
本发明所采用的技术方案是:一种便携式金属元素分析仪:在制有提手的提手壳体(9)上装有USB接口(8)、测量按钮(7),在壳体内下部装有屏蔽准直器(3),在屏蔽准直器(3)中装有射线遮挡体(4),屏蔽准直器(3)内壁制有扇形孔(31),在射线遮挡体(4)的内端开有一扇形孔(41),放射源(1)安装在射线遮挡体(4)上方,在屏蔽准直器(3)另一侧装有探测器(2),在放射源(1)一侧装有电池(6),在探测器(2)一侧装有电路板(5),电池(6)输出端联接电路板(5)的电源输入端,电路板(5)的电源输出端联接探测器(2),探测器(2)的信号输出端联接电路板(5)的信号输入端,电路板(5)的信号 输出端通过USB输出接口(8)联接计算机(10)。
本发明的一种便携式金属元素分析仪是根据不同元素的特征X射线的能量与该元素的原子序数平方呈一定的线性关系,通过检测矿石中各元素被激发出的特征X射线的能量,分辨出含有哪些元素种类;通过该元素特征X射线的强度,分析出该元素的含量。
将放射源与探测器按照一定的相对位置固定在辐射准直屏蔽装置内,保证二者的夹角小于60度。辐射准直屏蔽体由重金属铅构成,能够对射线进行很好的遮挡作用。
辐射准直屏蔽体在固定放射源位置前装有一个射线遮挡体,射线遮挡体可以抽动,并在内端开有一扇形孔,当射线遮挡体被向外抽动后,扇形孔正对放射源,射线可成扇面辐射,同时抽出的射线遮挡体触发仪表的总电源开关,探测器电源开始启动,并开始对探测器进行制冷。当射线遮挡体向内抽动至起始位置后,扇型孔移开放射源,射线无法辐射出仪表,总电源关闭。
辐射准直屏蔽装置在探测器前面开有一扇形孔。分别在放射源及探测器前面开扇形孔的目的,是为了使探测器下方的被分析物质能够被测量到一定的面积。在扇形孔中,覆盖一层轻金属隔离层,将铅遮挡住,可以避免辐射准直屏蔽装置中的铅受射线激发而发出特征X射线影响仪表测量。
在仪表的底端,装有一个中空的塑料制支撑板,保证在测量的时候,被分析物质相对放射源以及探测器的位置是一定的。
测量时,将射线遮挡体向外抽动,触发仪表总电源,再将仪表平稳的放置于被测量物体上,或者手持将仪表紧贴被测量物的外表面。此时放射源发出的射线辐射到被测量物上,激发出物体中各种元素的特征X荧光,并被探测器所接收。待状态稳定后,按下仪表提手前方的测量按钮,仪表开始测量。
测量开始,探测器信号处理电路开始工作,将探测器输出的信号进行处理,形成幅度与探测器接收到的射线能量成正比关系的脉冲信号,并对脉冲幅度分辨识别,相同幅度脉冲的总数量被累加在一起,最终形成一个横轴为脉冲幅度(对应能量)、纵轴为脉冲个数的图谱。
由仪表内部的计时电路开始计时,测量时间达到预设的时间长度后,测量结束。仪表将最终获得到的图谱存储在电路中的存储单元。即时或一段时间后通过 USB接口传输给笔记本电脑,再由笔记本电脑中预装的执行程序来对图谱进行分析处理。
通过对图谱中各个峰位的道址确定,推算出对应特征X荧光射线的能量,根据特征X荧光的能量与不同元素的对应关系,确定被测量物中含有哪些元素。
通过峰面积依据如下经验公式来确定该元素的含量H:
H=∑(Ai·Si)+B·S0+C
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