[发明专利]一种用于集成电路测试的简便方法及其测试电路

权利要求书

1.一种用于集成电路测试的简便方法，其特征是设置一个与被测集成电路共用输入、输出端的测试电路，测试电路首先对从输入端加入的脉冲信号和电源信号相比较，产生测试的时钟计数脉冲，然后对此计数脉冲进行计数和完全译码，产生测试控制选择信号，最后通过二选一方式选择出需要测试的信号。

2.根据权利要求1所述的用于集成电路测试的简便方法，其特征是脉冲信号和电源信号相比较时，当输入信号小于电源信号时，输出低电平；当输入信号大于电源信号时，输出高电平；完全译码在N到2^N范围进行，产生控制2^N个二选一的2^N个控制选择信号，送入不同个数的脉冲，产生不同的译码，打开不同的二选一输出，测试不同的测试信号。

3.根据权利要求1或2所述的用于集成电路测试的简便方法，其特征是输入端加入的脉冲信号的电压值，高电压值比电源电压大，低电压值比电源电压小。

4.一种用于集成电路测试的简便方法所设计的测试电路，其特征是设有包括时钟产生电路、译码电路和2^N个二选一电路依次连接；时钟产生电路对输入信号和电源信号进行比较，产生测试的时钟，当输入信号小于电源信号时，此电路输出低电平，当输入信号大于电源信号时，此电路输出高电平；译码电路对从时钟产生电路产生的测试时钟进行计数和N到2^N完全译码，产生控制2^N个二选一电路的2^N个控制信号；2^N个二选一电路在2^N个控制信号的控制下，正常情况下输出实际需要输出的信号，在测试情况下输出需要测试的信号。

5.根据权利要求4所述的测试电路，其特征是输入端输入的脉冲信号，其高电压值比电源电压大0.1～0.6V，其低电压值比电源电压小0.1～0.6V。