[发明专利]一种检测计算机仿真结果中晶粒的取向和结晶程度的方法

权利要求书

1、一种检测计算机仿真结果中晶粒的取向和结晶程度的方法，其特征在于按以下步骤进行：

1)对于计算机仿真后得到的结果，将其中待检测元素的所有原子的坐标读入计算机中，并设定原子的直径和沿某一欲研究的坐标轴上的采样频率；

2)将整个样品沿要研究的坐标轴平移，直到样品边缘在此轴上的坐标为0；

3)只考虑所有原子在这一坐标轴上的投影，按照设定的采样频率，逐个采样点统计能覆盖到该采样点的原子个数；或者通过该采样点并以该坐标轴为法线的截面所截到的各个原子面积之和，得到离散的横轴原子密度分布函数；

4)以离散的横轴原子密度分布函数为原始输入信号，对其进行傅立叶变换，得到振幅-频率图，观察振幅-频率图中特定晶向的特征频率以及其二次或者多次谐波，可以初步判定沿该坐标轴的各个特定晶向的存在。

2、根据权利要求1所述的检测计算机仿真结果中晶粒的取向和结晶程度的方法，其特征在于还包括以下步骤：

5)以设定的截止频率对原始的横轴原子密度分布函数进行高通滤波和低通滤波，以高通滤波后的每一点的信号强度除以低通滤波后每一点的信号强度，得到归一化的横轴原子密度分布函数，可以排除样品粗细不均匀、几何形状不规则所造成的影响。

3、根据权利要求2所述的检测计算机仿真结果中晶粒的取向和结晶程度的方法，其特征在于还包括以下步骤：

6)将样品在空间旋转一定角度，重复步骤2)-5)；

7)重复上述步骤6)，每次执行步骤6)都判断其是否旋转到一个特定角度，当旋转到特定角度，此时在振幅-频率图的某一特征频率附近，其呈现出的振荡峰的振幅比旋转到其他角度都大，频率也比旋转到其他角度都高，这表明旋转到此角度某个晶粒的某个晶向与要研究的坐标轴平行，由此可确定原来某个晶粒的取向，并根据振荡频率与理论推算的该晶向特征频率振荡的差值，可以推断某个晶粒的晶格畸变程度；

8)直接观察旋转各角度后所得到的归一化横轴原子密度分布函数图，如果可以直接找到振幅-频率图所反映出的周期性振荡信号的位置，则可以确定该取向晶粒的在所研究的坐标轴方向的位置以及长短，根据此处振荡振幅的大小，可以判定出该处结晶程度的高低即振幅越大，结晶越好，如果难以在横轴原子密度分布图中直接确定各个周期性振荡信号的位置，则可能是在与所研究的坐标轴的垂直方向有多种取向的晶粒，它们的信号互相叠加导致难以分辨。

4、根据权利要求1，2或3所述的检测计算机仿真结果中晶粒的取向和结晶程度的方法，其特征在于步骤4)中的特征频率是垂直于该晶向的晶面间距的倒数。