[发明专利]具有非线性校正功能的熔点仪

权利要求书

1、一种具有非线性校正功能的熔点仪，它包括

光源(1)、用于感受所述的光源(1)发射的光束经过被测物的透光量并将其转换成电信号的光敏器件(2)；

用于加热所述的被测物的加热炉(4)，用于感受加热温度并将其转换成电信号的温度测量电路(5)，所述的温度测量电路(5)包括阻值随温度变化的铂电阻(Rt)；

用于处理所述的光敏器件(2)和温度测量电路(5)输出的电信号的单片机(6)，所述的单片机(6)的输出信号为所述的被测物的熔点值；

所述的温度测量电路(5)包括用于放大温度信号的放大器(A1)和放大器(A3)，所述的铂电阻(Rt)接入所述的放大器A1的输出端与反相输入端之间；

其特征在于：

所述的温度测量电路(5)包括

可选择的接入所述的放大器(A1)的输出端与反相输入端之间的高值标准电阻(R300)和低值标准电阻(R100)；

接入所述的放大器(A1)的输出端与反相输入端之间的非线性校正电路(51)，所述的放大器(A1)与非线性校正电路(51)组成非线性校正回路，所述的非线性校正电路(51)包括一个反相输入端与放大器(A1)的输出端相连接的放大器(A2)，所述的放大器(A2)的输出端经过可调电阻(RW3)接入所述的放大器(A1)的反相输入端；

可拆卸的设置在所述的放大器(A1)的反相输入端与输出端之间并且与所述的非线性校正电路(51)相配合使用的电阻(R200)。

2、根据权利要求1所述的具有非线性校正功能的熔点仪，其特征在于：所述的放大器(A2)的放大倍数等于1。

3、根据权利要求1所述的具有非线性校正功能的熔点仪，其特征在于：所述的电阻(R200)的阻值介与所述的低值标准电阻(R100)与高值标准电阻(R300)的阻值之间。

4、根据权利要求1所述的具有非线性校正功能的熔点仪，其特征在于：所述的低值标准电阻(R100)的阻值大于并接近所述的铂电阻(Rt)在50℃时的电阻值；所述的高值标准电阻(R300)的阻值小于并接近所述的铂电阻(Rt)在350℃时的电阻值。

5、根据权利要求3所述的具有非线性校正功能的熔点仪，其特征在于：所述的低值标准电阻(R100)的阻值等于所述的铂电阻(Rt)在100℃时的电阻值；所述的高值标准电阻(R300)的阻值等于所述的铂电阻(Rt)在300℃时的电阻值。

6、根据权利要求3或5所述的具有非线性校正功能的熔点仪，其特征在于：所述的电阻(R200)是一个阻值与所述的铂电阻(Rt)在200℃时的电阻值相等的标准电阻。