[发明专利]熔点仪及消除熔点仪测量值漂移的方法

权利要求书

1、一种熔点仪，它包括

光源(1)、用于感受所述的光源(1)发射的光束经过被测物的透光量并将其转换成电信号的光敏器件(2)；

用于加热所述的被测物的加热炉(4)，用于感受加热温度并将其转换成电信号的温度测量电路(5)，所述的温度测量电路(5)包括一个阻值随温度而变化的铂电阻(R_t)；

用于处理所述的光敏器件(2)和温度测量电路(5)输出的电信号的单片机(6)；

其特征在于：

所述的温度测量电路(5)包括用于校正温度测量值漂移的低值标准电阻(R₁)、高值标准电阻(R₂)，所述的低值标准电阻(R₁)的阻值与一选定的较低温度时所述的铂电阻(R_t)的阻值相等，所述的高值标准电阻(R₂)的阻值与一选定的较高温度时所述的铂电阻(R_t)的阻值相等；

所述的单片机(6)还输出用于控制所述的低值标准电阻(R₁)、高值标准电阻(R₂)、铂电阻(R_t)接入和断开所述的温度测量电路(5)的控制信号，所述的单片机(6)根据所述的低值标准电阻(R₁)、高值标准电阻(R₂)对所述的温度测量电路(5)的校正结果，将已漂移的熔点测量值转换成标准值。

2、根据权利要求1所述的熔点仪，其特征在于：所述的低值标准电阻(R₁)的阻值与100℃时所述的铂电阻(R_t)的阻值相等，所述的高值标准电阻(R₂)的阻值与300℃时所述的铂电阻(R_t)的阻值相等。

3、一种消除熔点仪测量值漂移的方法，运用如权利要求1所述的熔点仪，它包括以下步骤：

接入低值标准电阻(R₁)至温度测量电路，低值标准电阻(R₁)的阻值与一选定的较低温度t₁时铂电阻(Rt)的阻值相等，单片机记录温度测量电路输出的测量值V₁；

断开低值标准电阻(R₁)，接入高值标准电阻(R₂)至温度测量电路，高值标准电阻(R₂)的阻值与一选定的较高温度t₂时铂电阻(R_t)的阻值相等，单片机记录温度测量电路输出的测量值V₂；

断开高值标准电阻(R₂)，接入铂电阻(R_t)，单片机根据透光量判断被测物处于完全熔化状态时，读取温度测量电路输出的测量值V_x；

根据以下公式，单片机得出对应铂电阻Rt温度的无漂移标准值T，

T=t1+(t2-t1)×(Vx-V1)(V2-V1).]]>

4、根据权利要求3所述的消除熔点仪测量值漂移的方法，其特征在于：低值标准电阻(R₁)的阻值与100℃时所述铂电阻(R_t)的阻值相等，高值标准电阻(R₂)的阻值与300℃时所述铂电阻(R_t)的阻值相等。