[发明专利]一种用于非球面面形测量的组合式干涉装置无效

专利信息
申请号: 200810031320.8 申请日: 2008-05-16
公开(公告)号: CN101270975A 公开(公告)日: 2008-09-24
发明(设计)人: 朱勇建;尹韶辉;范玉峰;吕冰海 申请(专利权)人: 湖南大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司 代理人: 马强
地址: 4100*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 球面 测量 组合式 干涉 装置
【权利要求书】:

1.一种用于非球面面形测量的组合式干涉装置,有激光器(1),其特征在于,沿激光器(1)产生激光的水平前进方向依序设置空间滤波器(2)、扩束系统(3)、分光镜(4)、转换透镜(5)、被测非球面镜(21);所述激光再次经过分光镜(4)反射后形成第一垂直光路,在该垂直光路先后放置45°偏振片(6)和第一光学平板(7),激光通过第一光学平板(7)后形成两条水平光路,在下面较小口径光路中沿激光前进方向依序设置垂直偏振片(8)、缩束系统(10)、第一光楔(12)、第二光楔(13);在上面较大口径光路中沿激光前进方向先后放置水平偏振片(9)、扩束系统(11)、第三光楔(14)、第四光楔(15),在第二光楔(13)和第四光楔(15)之后放置第二光学平板(16);两路光通过第二光学平板(16)后形成第二垂直光路,在该第二垂直光路沿激光前进方向依序设置分束光栅(17)、1/4波片(18)、偏振片组(19)和CCD(20)。

2.根据权利要求1所述的非球面测量装置,其特征在于,所述的偏振片(6)、垂直偏振片(8)和水平偏振片(9)的偏振方向分别为45°、90°和180°。

3.根据权利要求1所述的非球面测量装置,其特征在于,所述第一光学平板(7)和第一光学平板(16)为大小相等的长方体,且材料相同,长边相互平行放在同一水平面上,而两平板中心在同一水平线上,长边均与水平线成45°角,两中心距离为平板厚度的4~6倍。

4.根据权利要求1所述的非球面测量装置,其特征在于,所述缩束系统(10)和扩束系统(11)均由一大一小两个对应相同的透镜组成,仅大小透镜的放置位置正好相反。

5.根据权利要求1所述的非球面测量装置,其特征在于,所述第一光楔(12)、第二光楔(13),第三光楔(14)和第四光楔(15)为直径、厚度、大小和楔角完全相同的圆形光楔,第一光楔光楔(12)、第二光楔(13)同轴放置在较小口径光路中,无楔角面靠在一起并留有的缝隙,采用机械装置使它们同步反向的绕轴O1-O2转动;以同样方式把第三光楔(14)、第四光楔(15)放置在较大口径光路中,操作时同步反向绕轴O3-O4转动;第一光楔(12)与第二光楔(13)形成一个光楔对,第三光楔(14)与第四光楔(15)也形成一个光楔对,将该两个光楔对接到同一个高分辨率步进马达,两光楔对可同步或异步旋转。

6、根据权利要求1所述的非球面测量装置,其特征在于,所述分束光栅(17)是2×2的高效率衍射光栅,所述偏振片组(19)由一块透光玻璃板和三块偏振片粘在一起放置在同一平面上组成,且所述三块偏振片的偏振方向分别为45°,90°和135°。

7、根据权利要求1所述的非球面测量装置,其特征在于,垂直偏振片(8)和缩束系统(10)的位置互换,水平偏振片(9)和扩束系统(11)的位置互换。

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