[发明专利]一种降低碲镉汞光伏器件离子注入损伤影响的方法无效
申请号: | 200810033428.0 | 申请日: | 2008-02-01 |
公开(公告)号: | CN101226971A | 公开(公告)日: | 2008-07-23 |
发明(设计)人: | 乔辉;周文洪;叶振华;蒋科;贾嘉;李向阳 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 20008*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 降低 碲镉汞光伏 器件 离子 注入 损伤 影响 方法 | ||
1.一种降低碲镉汞光伏器件离子注入损伤影响的方法,它采用氢离子对器件进行表面钝化处理,其特征在于:在进行氢离子表面钝化处理时,器件表面有一层保护P型区的光刻胶层(106)。
2.根据权利要求1所述的一种降低碲镉汞光伏器件离子注入损伤影响的方法,其特征在于:所说的光刻胶层(106)上的氢离子钝化处理区域大小的最佳工艺参数的确定方法如下:
A.在进行器件制备的同时准备一片工艺试验陪片;
B.在工艺试验陪片的P型区的光刻胶层(106)上光刻出6种不同大小的氢离子钝化处理区域窗口(201)至(206),其中钝化处理区域窗口(201)大小与离子注入区域大小(104)相同,后续窗口(202)至窗口(205)的尺寸逐渐增大,其增量为1至5微米;
C.陪片上的器件制备完成后对不同氢离子处理面积的器件进行电流-电压性能测试,从中找出最佳电性能的器件,将该器件的处理窗口大小值确定为本工艺流程的最佳工艺参数。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的