[发明专利]一种降低碲镉汞光伏器件离子注入损伤影响的方法无效

专利信息
申请号: 200810033428.0 申请日: 2008-02-01
公开(公告)号: CN101226971A 公开(公告)日: 2008-07-23
发明(设计)人: 乔辉;周文洪;叶振华;蒋科;贾嘉;李向阳 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 郭英
地址: 20008*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 降低 碲镉汞光伏 器件 离子 注入 损伤 影响 方法
【权利要求书】:

1.一种降低碲镉汞光伏器件离子注入损伤影响的方法,它采用氢离子对器件进行表面钝化处理,其特征在于:在进行氢离子表面钝化处理时,器件表面有一层保护P型区的光刻胶层(106)。

2.根据权利要求1所述的一种降低碲镉汞光伏器件离子注入损伤影响的方法,其特征在于:所说的光刻胶层(106)上的氢离子钝化处理区域大小的最佳工艺参数的确定方法如下:

A.在进行器件制备的同时准备一片工艺试验陪片;

B.在工艺试验陪片的P型区的光刻胶层(106)上光刻出6种不同大小的氢离子钝化处理区域窗口(201)至(206),其中钝化处理区域窗口(201)大小与离子注入区域大小(104)相同,后续窗口(202)至窗口(205)的尺寸逐渐增大,其增量为1至5微米;

C.陪片上的器件制备完成后对不同氢离子处理面积的器件进行电流-电压性能测试,从中找出最佳电性能的器件,将该器件的处理窗口大小值确定为本工艺流程的最佳工艺参数。

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