[发明专利]有机涂层材料载流子密度的监测方法无效
申请号: | 200810033867.1 | 申请日: | 2008-02-26 |
公开(公告)号: | CN101246188A | 公开(公告)日: | 2008-08-20 |
发明(设计)人: | 钟庆东;施利毅;鲁雄刚;王超 | 申请(专利权)人: | 上海大学 |
主分类号: | G01R19/08 | 分类号: | G01R19/08;G01N27/22;G01N17/00 |
代理公司: | 上海上大专利事务所 | 代理人: | 何文欣 |
地址: | 200444*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 有机 涂层 材料 载流子 密度 监测 方法 | ||
1、一种有机涂层材料载流子密度的监测方法,其特征在于该方法的具体操作步骤如下:
a.测试电极基材为不锈钢棒,用环氧树脂密封,其工作面经纸打磨、清洗、干燥后,涂上有机涂层材料,涂膜厚度控制在25±2μm,并在35℃恒温干燥,得到涂膜电极;
b.将步骤a得到的涂膜电极浸泡在电解质溶液中,并将电极工作面水平放置,然后以饱和甘汞电极为辅助电极,铂电极为参比电极,测量涂膜电极体系电容Csc随在工作电压U的变化关系;
c.将步骤b测得的电容CSC与工作电压U的变化关系,作Csc-2~U对应关系曲线,得到Mott-Schottky关系图;根据Mott-Schottky关系式,对于n型半导体有:
对于p型半导体,则有:
其中Csc为空间电荷层电容,ε为有机涂层材料的介电常数,ε0为真空介电常数(为8.854×10-12F/m),e为电子电量,ND为载流子密度,U为工作电压,Ufb为平带电位,k为波尔兹曼常数,T为绝对温度;
将所得Mott-Schottky关系图外推至电位轴的交点,即能计算得到平带电位Ufb,
而由斜率能计算求得涂层的载流子密度ND;
所述的电解质溶液为:质量百分比浓度为3%~5%的硫酸钠、氯化钠或硝酸钠盐溶液、0.5%的硫酸溶液或5%的氢氧化钠溶液。
2、根据权利要求1所述的有机涂层材料载流子密度的监测方法,其特征在于所述的有机涂层材料有:酚醛树脂基涂层材料、醇酸树脂基涂层材料、室温硫化涂层材料RTV或环氧树脂基涂层材料。
3、根据权利要求2所述的有机涂层材料载流子密度的监测方法,其特征在于所述的酚醛树脂基涂层材料有:酚醛清漆和酚醛树脂基涂料。
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