[发明专利]一种易于测量TFT特性的阵列基板

权利要求书

1.一种易于测量TFT特性的阵列基板，包括扫描线、数据线、绝缘层、像素电极以及封框胶，其特征在于：

在阵列基板显示区的四个角各设置有一个附加像素电极，并且在显示区域四周边缘分别设置有与之相对应连接的两根附加扫描线和两根附加数据线，

在附加像素电极的一侧，在数据线层与数据线相平行地设置有另外两根附加测量配线，所述的附加像素电极向附加测量配线的一侧设置有连接凸块，该连接凸块部分与所述附加测量配线重叠；

所有六根附加配线都设置有与之电连接的伸出于封框胶之外的ITO测量块。

2.根据权利要求1所述的易于测量TFT特性的阵列基板，其特征在于：所述的附加测量配线设置于附加像素电极的外侧。

3.根据权利要求1所述的易于测量TFT特性的阵列基板，其特征在于：所述的ITO测量块为像素电极层的导电片，其内端通过接触孔与附加配线电连接，其外端伸出封框胶外形成裸露的测量端。

4.根据权利要求1所述的易于测量TFT特性的阵列基板，其特征在于：所述的附加配线延伸到封框胶之外的区域，在封框胶之外的区域像素电极层设置有ITO测量块，ITO测量块与附加配线电连接。

5.根据权利要求4所述的易于测量TFT特性的阵列基板，其特征在于：所述的附加配线封框胶之外区域上层的绝缘层刻蚀有测量块缺口，缺口内设置有与附加配线直接电连接的ITO测量块。