[发明专利]高分辨率亚像元成像技术实现的方法和系统无效

专利信息
申请号: 200810035324.3 申请日: 2008-03-28
公开(公告)号: CN101299099A 公开(公告)日: 2008-11-05
发明(设计)人: 陈博洋;罗勇;陈凡胜;孙胜利;陈桂林 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G02B27/58 分类号: G02B27/58;G01S17/89
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 郭英
地址: 20008*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 高分辨率 亚像元 成像 技术 实现 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种亚像元成像系统,它包括:面阵CMOS探测器(1)、面阵CMOS探测器驱动与数据采集板(2)、光学镜头(3)和二维平移精密光学调节装置(4),其特征在于:由面阵CMOS探测器(1)、面阵CMOS探测器驱动与数据采集板(2)、光学镜头(3)构成的光学成像系统固定于二维平移精密光学调节装置(4)上,二维平移精密光学调节装置(4)对光学成像系统在X方向和Y方向可以作相对原始图像的50%像素的位移。

2.一种亚像元成像方法,其特征在于:它包括以下步骤:

A.由面阵CMOS探测器(1)、面阵CMOS探测器驱动与数据采集板(2)、光学镜头(3)构成的光学成像系统物体进行成像,获得第一幅图像数据;

B.利用二维平移精密光学调节装置(4)移动成像系统使物体在面阵CMOS探测器(1)上的图像在X方向和Y方向分别错位半个CMOS像元的距离,再次对物体进行成像,获得错位半个像元的第二幅图像数据;

C.将步骤A和步骤B获得的两幅图像数据进行融合,从而获得高分辨的亚像元成像的图像数据。

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