[发明专利]一种器件老化筛选加热温度控制方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种加热温度控制方法，尤其涉及一种器件老化筛选加热温度控制方法。

技术背景

在对器件进行老化筛选时，普通的加热或者使用可控硅整流，或者使用接触器开关模式，只以控制温度为目标，这样会导致效率低、速度慢。如何提高效率，加快速度是本发明亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，而提供一种器件老化筛选加热温度控制方法，它具有效率高、速度快的特点。

实现上述目的的技术方案是：一种器件老化筛选加热温度控制方法，其中，包括以下步骤：

步骤S1：设定目标温度，即通过一数字信号处理器设定器件老化筛选需要的目标温度Ts；

步骤S2：测定环境温度，即测定周围的环境温度Tc，然后计算所需要的调整温度ΔT，ΔT＝Ts-Tc；

步骤S3：计算加热功率，即通过检测后计算得到的调整温度ΔT来计算加热功率W，加热功率W＝K·ΔT²，其中，K为转换系数；

步骤S4：按加热功率给出电压触发，即根据步骤S3得到的加热功率W给出电压触发以触发一整流电路来进行整流控制，输出的电压V=2·W·R,]]>其中，R为用于给数字信号处理器进行电流和电压采样的电热丝的电阻，该电热丝通过输入电流的整流、PWM控制后进行采样给数字信号处理器；

步骤S5：根据温度进行PWM控制，即根据温度情况，来进行PWM控制以控制温度，控制方式为：

ΔT=WK·TonTon+TOFF=TonTon+TOFF×VX2K·R,]]>其中：

Vx为实测电热丝电压，Ton为电热丝接近时间，T_OFF为电热丝关闭时间。

上述的器件老化筛选加热温度控制方法，其中，所述的步骤S5中，PWM控制通过调整IGBT来进行温度控制。

本发明的有益效果是：本发明在普通的加热控制方法的基础上，不仅对温度进行了控制，另外增加了对功率进行了控制，使得控制的效率高、速度快。

附图说明

图1是本发明的流程图。

具体实施方式

下面将结合附图对本发明作进一步说明。

请参阅图1，图中示出了本发明的一种器件老化筛选加热温度控制方法，包括以下步骤：

步骤S1：设定目标温度，即通过一数字信号处理器设定器件老化筛选需要的目标温度Ts；

步骤S2：测定环境温度，即测定周围的环境温度Tc，然后计算所需要的调整温度ΔT，ΔT＝Ts-Tc；

步骤S3：计算加热功率，即通过检测后计算得到的调整温度ΔT来计算加热功率W，加热功率W＝K·ΔT²，其中，K为转换系数；