[发明专利]XYY精密定位平台的校准方法有效

专利信息
申请号: 200810036208.3 申请日: 2008-04-17
公开(公告)号: CN101260967A 公开(公告)日: 2008-09-10
发明(设计)人: 吴刚 申请(专利权)人: 上海微电子装备有限公司
主分类号: F16M11/10 分类号: F16M11/10;F16M11/20;G03F7/20
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 201203上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: xyy 精密 定位 平台 校准 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种平台的校准方法,特别涉及用于芯片制造行业的XYY精密定位平台的校准方法。

背景技术

精密定位平台是精密加工领域的重要工具。例如,光刻机在制造芯片的时候,就是把硅片和掩模分别固定在两个精密定位平台上,以便把掩模上的图形复制到硅片上。

公开号为CN2777335Y的中国专利“一种三自由度精密定位平台”公开了一种精密定位平台,该平台在X方向有一个伸缩机构(该专利中用凸轮和弹性柔性件实现),Y方向有两个伸缩机构,其原理示意图可参阅图1,图中画出了坐标系,其中,Rz向表示绕Z轴旋转的方向。平台1边缘上的三个点x、y1和y2分别用于表示该一个X向伸缩机构和两个Y向伸缩机构的位置,当伸缩机构在这三个点上伸长或缩短时,平台1便开始运动。通过控制x、y1、y2三个伸缩机构的力的大小和方向,便可实现平台1在X、Y和Rz方向上的运动。

如果把伸缩机构改为其他形式,例如直线电机、丝杠、压电致动器、超声电机等等,或者将整个平台改为X方向具有两个伸缩机构、Y方向具有一个伸缩机构的结构,并不会改变其实质,故将这一类型的平台统称为“XYY平台”。

XYY平台虽然具备结构简单、体积小、没有叠加运动等优点,但在工程实践中,还要解决以下三个问题:

1.执行器的校准问题。

受到电气特性的限制,控制器不能直接带动伸缩机构,而必须通过功率放大部件带动电机,再由电机带动伸缩机构。功率放大部件、电机和伸缩机构共同组成“执行器”。这又进一步带来三个问题:(1)由于功率放大部件有漏电流(用Leak表示),所以即使控制器的控制值为0(不希望电机运动),功率放大部件仍然会有微弱的电流送给电机,于是电机不能完全静止;(2)由于功率放大部件的放大倍率(用β表示)有误差,所以电机的实际输出和控制值不同;(3)由于机械误差,最终传递到平台的伸缩量和电机的实际输出又不同。

上述问题的最终后果是:无法把控制器的控制值准确地传递给平台,从而破坏了整个控制系统的伺服性能。如果希望把控制器的控制值准确地传递给平台,就必须做执行器校准。

2.运动的耦合问题。

参见图2,并配合参照图1,设平台1的旋转中心为O,X方向的伸缩机构和平台1边缘的点x相接触。现在要让平台1做旋转运动,则Y方向的两个伸缩机构应一个伸长、一个缩短。但是随着旋转,X方向的伸缩机构会运动到和点x’相接触的位置。因为O到x和O到x’的距离不同,因此平台1在X方向上也会产生移动,即本来只想做Rz运动,却在X方向产生了副作用。这就是“运动的耦合问题”,必须经过解耦才能消除这种耦合。由于加工和装配误差,任何两个平台的耦合关系都不一样,因此必须找到通用、高效的解耦方法。

3.伸缩传感器的校准问题。

为了能迅速确定平台位置,在伸缩机构旁装有伸缩传感器,以便根据各个伸缩机构的伸缩量算出平台的X、Y和Rz坐标。如果伸缩传感器自身有误差,那么算出的平台坐标必然有误差。而伸缩传感器的误差是不可避免的,而且随着长时间运行后的老化,还可能越来越大,因此必须有办法校准伸缩传感器。

以上三个问题,在要求不高的场合影响不大。但是,如果对效率或精度的要求较高(例如光刻机中),就必须解决这些问题。否则,第一和第二个问题会导致平台经多次调整之后才能到达目标位置(影响效率),第二和第三个问题会导致平台移动到错误的位置(影响精度)。

上述中国专利“一种三自由度精密定位平台”中,仅根据动力学方程分析了XYY平台的受力关系,没有考虑上述三个问题,因此技术效果不够理想。

美国第6747431号专利(公开日:2004年6月8日)提出了一种执行器校准的方法,但是该方法仅针对电机本身,忽视了功率放大部件的电路误差。

美国第6948254号专利(公开日:2003年9月27日)提出了一种消除定位平台水平位置误差的方法,该方法亦可用于解决运动耦合问题。其缺点是计算量较大,而且需要大量读取标记的位置。在某些设备(例如光刻机)中,读取标记位置需要花费一定的时间,因此大量读取标记位置的后果就是效率低下。

美国第6614617号专利(公开日:2005年9月2日)提出了另一种基于速度误差的执行器校准方法。该方法的优点是对功率放大部件和电机的总误差进行校准,但是在很多设备(例如光刻机)中,缺乏直接测平台运动速度的传感器,通常只能测电机的速度。因此,如果运用上述6948254号专利的方法,则不能对机械误差进行校准。

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