[发明专利]一种用于Pseudo-MOS表征的测试台及其测试方法无效

专利信息
申请号: 200810036965.0 申请日: 2008-05-05
公开(公告)号: CN101271137A 公开(公告)日: 2008-09-24
发明(设计)人: 张恩霞;言智;于治水;曹阳根;何佳;黄晨 申请(专利权)人: 上海工程技术大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 上海三方专利事务所 代理人: 吴干权
地址: 201620*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 用于 pseudo mos 表征 测试 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种用于Pseudo-MOS表征的测试台,包括测试台、测试台架、固定配件、导电载物台及测试屏蔽盒,其特征在于:还包括压力控制系统、探针定位系统,测试台上装有导电载物台及测试屏蔽盒,压力控制系统、探针定位系统采用固定配件安装在测试台架上。

2.根据权利1所述的一种用于Pseudo-MOS表征的测试台,其特征在于:所述的探针定位系统采用探针高度定位控制器控制探针在X、Y、Z方向移动,压力控制系统主要由压力控制器、数字显示器、压力传感器、探针接触缓冲器及探针组成。

3.根据权利2所述的一种用于Pseudo-MOS表征的测试台,其特征在于:所述的探针接触缓冲器由两根弹簧组成。

4.根据权利2所述的一种用于Pseudo-MOS表征的测试台,其特征在于:探针的材料采用具有良好电导率的金属及金属合金制成。

5.根据权利1所述的一种用于Pseudo-MOS表征的测试台,其特征在于:所述的屏蔽盒是一个对测试台进行屏蔽的盒状结构,屏蔽盒设有接地装置,该屏蔽盒材料为金属或金属合金。

6.根据权利1所述的一种用于Pseudo-MOS表征的测试台,其特征在于:所述的导电载物台活动连接测试台,导电载物台的表面材料采用良好导电性能的金属制成,并与连接电极的屏蔽导线相连。

7.根据权利1所述的一种用于Pseudo-MOS表征的测试台,其特征在于:该测试台与精密半导体参数分析仪连接。

8.一种用于Pseudo-MOS表征的测试方法,包括测试台、测试台架、固定配件、导电载物台及测试屏蔽盒,其特征在于:还包括压力控制系统、探针定位系统,探针与半导体薄膜形成欧姆解除,压力传感器控制探针与半导体薄膜之间的作用力,并能通过数字显示器显示出该作用力的具体数值,作用于探针上的压力作用系统与高弹性弹簧相连控制作用力,探针定位系统用于控制并确定探针的高度与XY方向坐标。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海工程技术大学,未经上海工程技术大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810036965.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top