[发明专利]水上测量时经纬仪的调校方法有效

专利信息
申请号: 200810037966.7 申请日: 2008-05-23
公开(公告)号: CN101586964A 公开(公告)日: 2009-11-25
发明(设计)人: 张洪春 申请(专利权)人: 上海船厂船舶有限公司
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00;G01B11/00
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 薛 琦;朱水平
地址: 20008*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 水上 测量 经纬仪 调校 方法
【权利要求书】:

1.一种水上测量时经纬仪的调校方法,其包括如下步骤:

S1、先在平行于基面的平面上建一平面坐标系,该平面坐标系是由两纵 横相交的直线组成,该两直线的交点为坐标原点;

S2、以该坐标原点为中点在横、纵坐标轴上量取两对分别相等的线段, 构成坐标的横轴和纵轴,将该线段的端点作为该坐标轴上的四个远点;

S3、将经纬仪置于坐标原点上,并关闭经纬仪的自动调平;

S4、以该坐标原点为基点,先在该纵轴上调校经纬仪,直至该经纬仪测 量轴心至该纵轴上两远点的距离相等;

S5、在S4的基础上对该纵轴做倒像校准至合格;

S6、旋转该经纬仪至该横轴,对该横轴上的远点进行多次调校,直至经 纬仪测量轴心到该横轴上两远点的距离完全相等;

S7、在S6的基础上对横轴做倒像校准至合格;

S8、旋转该经纬仪到纵轴,重复以上S4~S7步骤,直至该经纬仪测量轴 心到该横轴和纵轴上远点的距离完全相等。

2.如权利要求1所述的水上测量时经纬仪的调校方法,其特征在于, 该坐标横轴和纵轴相等。

3.如权利要求1所述的水上测量时经纬仪的调校方法,其特征在于, 所述的调校方法的结果是经纬仪的测量轴心到该横轴、纵轴上四个远点的距 离相等。

4.如权利要求1所述的水上测量时经纬仪的调校方法,其特征在于, 该横轴、纵轴上四个远点的连线为圆形、方形或菱形。

5.如权利要求1所述的水上测量时经纬仪的调校方法,其特征在于, 该经纬仪测量轴心到该横轴上两远点和该纵轴上两远点的距离相等是指:该 经纬仪对准同一坐标轴一端的远点时,保持垂直度盘的读数不变,旋转180° 后仍能对准该同一坐标轴的另一端的远点。

6.如权利要求1所述的水上测量时经纬仪的调校方法,其特征在于, 该倒像校准合格的操作为:将经纬仪对准一坐标轴线后,将经纬仪水平和垂 直各旋转180°,检查对准情况;当经纬仪在两次对准后均能找准坐标轴线 时,倒像校准合格。

7.如权利要求1所述的水上测量时经纬仪的调校方法,其特征在于, 该平面坐标系建立在船舶的甲板或平台上。

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