[发明专利]一种用于金属化学机械抛光的抛光浆料及其用途有效
申请号: | 200810038309.4 | 申请日: | 2008-05-30 |
公开(公告)号: | CN101591509A | 公开(公告)日: | 2009-12-02 |
发明(设计)人: | 徐春 | 申请(专利权)人: | 安集微电子(上海)有限公司 |
主分类号: | C09G1/02 | 分类号: | C09G1/02;C09G1/00;C12N9/08;C23F3/00 |
代理公司: | 上海翰鸿律师事务所 | 代理人: | 李佳铭 |
地址: | 201203上海市浦东新区张江高科*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 金属 化学 机械抛光 抛光 浆料 及其 用途 | ||
1.一种用于金属化学机械抛光的抛光浆料,含有氧化剂、研磨颗粒和 载体,其特征在于,还含有酶,其中,所述的酶选自过氧化物酶、辣根过氧 化物酶、谷胱甘肽过氧化物酶和过氧化物歧化酶。
2.根据权利要求1所述的抛光浆料,其特征在于,所述的酶的浓度为 重量百分比0.01~1%。
3.根据权利要求1所述的抛光浆料,其特征在于,所述的氧化剂选自 过氧化氢、过氧化氢脲、过氧乙酸、过氧化苯甲酰、过硫酸钾、过硫酸铵和 过碘酸钾。
4.根据权利要求1所述的抛光浆料,其特征在于,所述的氧化剂的浓 度为重量百分比0.1~10%。
5.根据权利要求1所述的抛光浆料,其特征在于,所述的研磨颗粒选 自氧化硅、氧化铝、氧化铈和聚合物颗粒。
6.根据权利要求1所述的抛光浆料,其特征在于,所述的研磨颗粒的 粒径为20~200nm。
7.根据权利要求6所述的抛光浆料,其特征在于,所述的研磨颗粒的 粒径为30~100nm。
8.根据权利要求1所述的抛光浆料,其特征在于,所述的研磨颗粒的 浓度为重量百分比0.1~10%。
9.根据权利要求1所述的抛光浆料,其特征在于,该抛光浆料的pH值 为2.0~12.0。
10.根据权利要求9所述的抛光浆料,其特征在于,该抛光浆料的pH 值为2.0~5.0或9.0~12.0。
11.根据权利要求1所述的抛光浆料,其特征在于,还包含pH调节剂、 表面活性剂、稳定剂、腐蚀抑制剂和/或杀菌剂。
12.根据权利要求1所述的抛光浆料,其特征在于,所述的载体为水或 醇。
13.一种权利要求1~12任一项所述的抛光浆料在化学机械抛光半导体 制程中使用的包括钨、铜、铝、钽或氮化钽的金属中的用途。
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