[发明专利]基于扫描链的存储器测试装置及其使用方法

权利要求书

1、一种基于扫描链的存储器测试装置，包括存储器内建自测试模块，该存储器内建自测试模块包括测试向量产生电路、内建自测试控制电路和存储器响应分析电路；其特征在于，存储器内建自测试模块内有用来保存内建自测试结果的可扫描触发器，所述可扫描触发器与逻辑电路可扫描触发器串联成扫描链，该扫描链通过存储器芯片端口可控可观。

2、如权利要求1所述的基于扫描链的存储器测试装置的使用方法，其特征在于，包括以下步骤：

在存储器内建自测试模式下完成存储器的自检测，并把测试结果存储到内建自测试模块可扫描触发器中；

切换到扫描链测试模式，逐个移出扫描链上各个可扫描触发器中存储的值；

将这些可扫描触发器的值通过扫描链在扫描端口上逐个移出，由测试设备检测这些值；

如果检测到扫描端口上有测试结果值与预期值不同，计算该扫描链的长度和扫描链移出数据的时钟周期数，以确定和预期的值不相同的可扫描触发器位置，从而确定该可扫描触发器对应的存储器有缺陷。