[发明专利]防静电保护电路无效

专利信息
申请号: 200810044085.8 申请日: 2008-12-11
公开(公告)号: CN101752849A 公开(公告)日: 2010-06-23
发明(设计)人: 王楠;周平;古炯钧 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: H02H9/00 分类号: H02H9/00;H02H9/04
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 周赤
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 静电 保护 电路
【说明书】:

技术领域

发明涉及半导体技术,特别涉及一种防静电保护电路。

背景技术

随着半导体芯片的运用越来越广泛,运用范围和领域越来越大,所涉及到的静电损伤也越来越多。通常穿尼龙制品的人体静电可能达到21,000V的高压,750V左右的放电可以产生可见火花,而仅10V左右的电压就可能毁坏没有静电保护(electrostatic discharge,ESD)的芯片,现在已经有很多种防静电保护设计和应用,通常有栅接地的N型场效应晶体管(Gate Grounded NMOS,GGNMOS)保护电路、二极管保护电路、可控硅(Silicon Controlled Rectifier,SCR)电路等等。

栅接地的N型场效应晶体管(Gate Grounded NMOS,GGNMOS)保护电路如图1所示,它实现防静电保护的工作过程是:首先是静电使此晶体管的漏极电压不断上升,当漏极电压上升到结的击穿电压(BreakdownVoltag)时,漏极将产生一个较大的击穿电流,此电流流向衬底,从而在电流通路上形成一定的压降,当压降达到一定程度的时候,漏极,衬底和源极所形成的NPN型三极管将开启,而三极管有电流放大作用,从而增大了电流,泻放静电到地,同时也使得漏极的电压下降,N型场效应晶体管工作时使漏极电压维持在钳压(Trigger Voltage)即结的击穿电压(Breakdown Voltag)和持有电压(Holding Voltage)之间,保护内部电路不被高电压损坏。

但当地端电压高于芯片内部电路端电压时,此时栅接地的N型场效应晶体管相当于一个由衬底到漏极的PN二极管正向导通,无法实现反向电压保护。

发明内容

本发明要解决的一个技术问题是提供一种防静电保护电路,能够实现反向电压保护。

为解决上述技术问题,本发明的防静电保护电路,包括一NMOS管和第一PMOS管;该NMOS管衬底同源极相连后接地,栅极接地;第一PMOS管衬底同漏极相连后接该NMOS管漏极,源极接芯片内部电路,栅极同漏极相接。

本发明的防静电保护电路,还可以包括第二PMOS管、第三PMOS管;第二PMOS管漏极接芯片内部电路,衬底同源极相连后接第三PMOS管漏极;第三PMOS管源极接工作电源,衬底同漏极相连后接第二PMOS管源极。

本发明的防静电保护电路,当芯片内部电路端的电压出现静电高压时,能通过栅接地的N型场效应晶体管进行泄放到地,保护芯片内部电路不被高电压损坏。而只有地端电压高于芯片内部电路端的电压为VBVP+0.7V以上时,地端与芯片内部电路端之间才会导通,能够实现反向电压保护。

附图说明

下面结合附图及具体实施方式对本发明作进一步详细说明。

图1是栅接地的N型场效应晶体管防静电保护电路示意图;

图2是本发明的防静电保护电路一实施方式电路图。

具体实施方式

本发明的防静电保护电路一实施方式如图2所示,包括一NMOS管N1和第一PMOS管P1,该NMOS管N1衬底同源极相连后接地,栅源之间接有电阻,防止栅极击穿时,产生大电流,第一PMOS管P1衬底同漏极相连后接该NMOS管N1漏极,源极接芯片内部电路,栅漏之间接有电阻,防止栅极击穿时,产生大电流;还包括第二PMOS管P2、第三PMOS管P3,第二PMOS管P2漏极接芯片内部电路,衬底同源极相连后接第三PMOS管P3漏极,栅源之间接有电阻,防止栅极击穿时,产生大电流;第三PMOS管P3源极接工作电源VDD,衬底同漏极相连后接第二PMOS管P2源极,栅漏之间接有电阻,防止栅极击穿时,产生大电流。

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