[发明专利]单端口测试微波腔体滤波器级间耦合系数的测量方法

说明书

技术领域

本发明是关于微波腔体滤波器，微波同轴腔体滤波器级间耦合系数的测量方法。

背景技术

现有技术中，用于微波同轴腔体滤波器级间耦合系数测量方法，通常采用双端口传输测试法。该方法通过测试两个相同微波谐振器的传输参数，再根据计算得出两个谐振器之间的耦合系数，计算测出同轴腔体滤波器级间耦合系数。其测试原理的系统连接框图如图2所示。测试时，是将图2中的网络分析仪4的端口1、端口2分别通过测试电缆连接与耦合系数测试附件3的两个端口相连接。它通过网络分析仪测量中心频率f0处的插入损耗。并根据公式：

L0=20lg((1+QeQu)22kQe+kQe2)]]>

计算出耦合系数k。式中：

L0为中心频率f0的插入损耗

K为耦合系数

Qe为谐振器的外界Q值

Qu为谐振器的无载Q值

通常一般的滤波器腔体的数目是大于2的，如图2中所示的滤波器腔体的数目为5。由于传输法测量耦合系数，需要两个被测腔体具有输入/输出端口。而实际滤波器只在第一和最后一个腔体分别设置有输入/输出端口，因此上述传输法无法在滤波器上直接进行耦合系数的测量。需要单独加工一个不利于滤波器调试的测试附件，而且还要要求测试附件的腔体尺寸和耦合结构的尺寸与滤波器完全一样，才能满足谐振器之间的耦合系数。这种将测试附件腔体做到与滤波器腔体完全一致的技术要求，不仅受加工技术的限制，而且很难做到技术上的一致性，还给测试带来了操作上的不方便。由于加工技术限制存在的不一致性误差，必然将导致测试结果具有一定的误差和较低的测试精度。

发明内容：

本发明的目的是提供一种无需测试附件辅助，测试精度高，能够提高微波腔体滤波器级间耦合系数的准确性和方便性的微波腔体滤波器级间耦合系数测量方法。

本发明实现上述目的方法可以通过以下措施来达到。本发明提供的一种单端口测试微波腔体滤波器级间耦合系数测量方法，包括下列步骤：

A.连接测试仪器与被测件，用含有数据采集分析软件程序的计算机，通过GPIB接口连接测试仪器，建立测试平台；

B.在测试仪器的一个端口上测量被测件的反射参数S11，并将测试数据通过GPIB接口传输到计算机；

C.根据测量的传输零点和极点的频率值，通过所述计算机中的数据采集分析软件程序计算耦合系数，耦合系数由下述步骤计算出，

先由下式计算出被测件的输入导纳y₁₁：