[发明专利]高速平面雪崩光电二极管无效
申请号: | 200810047210.0 | 申请日: | 2008-04-01 |
公开(公告)号: | CN101271935A | 公开(公告)日: | 2008-09-24 |
发明(设计)人: | 岳爱文 | 申请(专利权)人: | 武汉电信器件有限公司 |
主分类号: | H01L31/107 | 分类号: | H01L31/107 |
代理公司: | 武汉宇晨专利事务所 | 代理人: | 黄瑞棠 |
地址: | 430074湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 高速 平面 雪崩 光电二极管 | ||
1、一种高速平面雪崩光电二极管,其特征在于:
在n-InP衬底(2)上依次生长n-InP缓冲层(3)、n型分布反馈反射层(4)、i-InGaAs层(5)、n-InGaAsP渐变层(6)、n-InP电场控制层(7)、i-InP窗口层(8)、i型InGaAs接触层(9);i-InP窗口层(8)中通过两次Zn扩散形成一个p型中心区(11)和p型环行区(12);扩散后在窗口层(8)中形成雪崩倍增区(14);窗口层(8)上覆盖抗反射介质层(10);i型InGaAs接触层(9)上为环型的p金属层(13),APD背面为n金属层(1)。
2、根据权利要求1所述的一种高速平面雪崩光电二极管,其特征在于n型分布反馈反射层(4):
可以是AlGaInAs/InP DBR,还可以是InGaAsP/InP DBR、AlGaInAs/AlInAs DBR或InGaAsP/AlInAs DBR,DBR反射谱的中心波长可以是(1310±10)nm或(1550±10)nm。
3、根据权利要求1所述的一种高速平面雪崩光电二极管,其特征在于i-InGaAs层(5):
可以是非掺杂的本怔InP,也可以是载流子浓度低于5e15cm-3的n-InGaAs;厚度为0.8μm~1.3μm,
4、根据权利要求1所述的一种高速平面雪崩光电二极管,其特征在于n-InP电场控制层(7):
载流子浓度为2e17cm-3~6e17cm-3,厚度为0.05μm~0.2μm,积分电荷为3.2e12cm-2~3.5e12cm-2。
5、根据权利要求1所述的一种高速平面雪崩光电二极管,其特征在于雪崩倍增区(14):
厚度小于0.3μm。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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