[发明专利]一种综合孔径辐射计成像校正方法

权利要求书

1、一种综合孔径辐射计成像校正方法，其步骤包括：

(1)采用N个天线组成天线阵列，接收场景和目标的微波热辐射信号，得到N路模拟信号，经放大、滤波、下变频和模数转换变换为N路数字复信号x_i(t)，i＝1，2，...，N，其中t为离散时间变量，N为大于1的整数；

(2)任意选择其中的两路信号x_n(t)、x_m(t)，1≤n≤N，1≤m≤N，利用公式(I)计算原始可见度V_raw：

V_raw＝E[x_n(t)x_m(t)]        (I)

(3)判断场景中是否包含人工目标，如果包含，去除人工目标，按照步骤(1)至(2)的方法，获取没有放置人工目标时的可见度V_b，然后进入步骤(4)，否则直接进入步骤(4)；

(4)利用公式(II)计算仅由自然场景和仅由人工目标产生的可见度V′_b；

(5)在视场内放置信号源/或者噪声源，采用以下步骤测量可见度输出V′_raw；

(5.1)采用上述天线阵列接收目标的微波热辐射信号得到N路模拟信号，经放大、滤波、下变频和模数转换变换为N路数字复信号y_i(t)，i＝1，2，...，N，其中t为离散时间变量；

(5.2)选择其中的两路信号y_n(t)，y_m(t)，利用公式(III)计算可见度：

V′_raw＝E[y_n(t)y_m(t)]        (III)

(6)采用公式(IV)计算得到仅由外部源产生的可见度输出V_cal；

V_cal＝V′_raw-V_b        (IV)

并得到相位φ_raw，φ_raw＝∠V_cal；

(7)采用公式(V)得到校正后的可见度V₂：

V2=Vb×e-jφraw---(V)]]>

其中，e为自然对数，j为虚数单位；

(8)反演成像得到下述被测场景的图像T：

T＝IFFT{V₂}

其中，IFFT表示反傅立叶变换。