[发明专利]谷粒参数自动测量装置及方法无效
申请号: | 200810048741.1 | 申请日: | 2008-08-08 |
公开(公告)号: | CN101339118A | 公开(公告)日: | 2009-01-07 |
发明(设计)人: | 骆清铭;曾绍群;毕昆;方伟 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01N15/10 | 分类号: | G01N15/10;G01B11/02;G01N21/84 |
代理公司: | 武汉开元专利代理有限责任公司 | 代理人: | 唐正玉 |
地址: | 430074湖北省武汉市洪山区*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 谷粒 参数 自动 测量 装置 方法 | ||
1、谷粒参数自动测量装置,包括光电开关(1)、可控升降板(2)、单株脱粒仪(3)、控制按钮(4)、CCD相机(5)、皮带(6)、毛刷(7)、安全防护设施(8)、计算机(9)、皮带控制器(10)、图像采集卡(11),光电开关(1)与可控升降板(2)相连,都位于单株脱粒仪(3)入口处,控制按钮(4)分别与可控升降板(2)及计算机(9)相连,CCD相机(5)依次与图像采集卡(11)、计算机(9)相连,CCD相机(5利用三脚架支持并固定,其镜头正对皮带(6),CCD相机(5)、皮带(6)及毛刷(7)都安装在安全防护设施(8)内,皮带(6)与皮带控制器(10)相连,毛刷(7)位于皮带(6)下部外侧。
2、根据权利要求1所述的谷粒参数自动测量装置的谷粒参数自动测量方法,按以下步骤进行:(1)将稻穗按照要求放入脱粒机中脱粒,谷粒由脱粒机的扩展接口掉落到传送皮带上,CCD相机在皮带行进的过程中拍摄谷粒图像,图像由图像采集卡返回给计算机;(2)计算机通过图像处理以及谷粒参数统计算法后,得谷粒数、粒长、粒宽、粒面积参数。
3、根据权利要求2所述的谷粒参数自动测量方法,具体按以下步骤进行:打开单株脱粒仪和计算机,每进行一穗水稻的测量工作前,操作人员先按下控制按钮,控制按钮发出信号给计算机,通知计算机开始新的一穗的测量,把稻穗放到单株脱粒仪入口处,光电开关检测到人手后,发出信号给计算机,当且仅当计算机接收到了控制按钮和光电开关两个信号后,计算机才控制可控升降板上升,暴露出打谷口,允许单株脱粒仪开始打谷;同时计算机开始延时,谷粒由单株脱粒仪出口通过扩展接口掉落到皮带上,由运转的皮带分离谷粒,延时1s后,计算机开始采集CCD拍摄的图像数据,通过图像采集卡传送入计算机;完成脱粒工作后,操作人员将脱粒后的稻穗取出,光电开关检测到人手的离开,发出信号给计算机,计算机控制可控升降板下降,计算机开始延时,延时4s后计算机停止数据采集,开始图像处理工作,得到谷粒的粒数、粒长、粒宽、粒面积。
4、根据权利要求3所述的谷粒参数自动测量方法,图像处理按照以下步骤进行:(1)、提取图像的RGB分量:将图像的RGB分量提取,选择背景与前景对比度最大的分量来做图像处理;(2)、边缘增强:为了保护图像中谷粒的边缘不在滤波的过程中模糊,采用边缘增强处理;(3)、中值滤波:对分量图像进行中值滤波去除噪声;(4)、二值化:将中值滤波后的图像转化为二值化图;(5)、去除小区域:设定面积阈值,去掉区域面积在阈值以下的小区域;(6)、填充:填充图像中因为谷粒外观或者光照条件的影响所产生的;(7)、距离变换:将二值化的谷粒图像通过距离变换成为有梯度变换的距离图像;(8)、灰度重建:通过灰度重建变换,将图像的部分峰值去除;(9)、分水岭变换:通过分水岭变换算法将粘连谷粒分离开为单独对象;(10)、参数统计:对经过上述处理后的图像,进行各种参数的统计。
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