[发明专利]一种高灵敏度表面等离子共振的测量方法及其测量系统

权利要求书

1.一种高灵敏度的表面等离子共振的测量方法，包括以下步骤：

(1)将SPR传感器件调整并固定在被测样品对应的SPR入射角度附近；

(2)将SPR传感器件连接到工作在一个工作在特定波长上的直流光激光器的谐振腔内，形成谐振回路；

(3)调节泵浦光源的功率，使激光器工作在阈值附近；

(4)往样品池中通入被测样品，根据检测仪器测量的信号变化，得到待测物的变化。

2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述步骤(1)中，光入射到SPR传感层的角度应设置为略偏离激光器工作波长的SPR角度。

3.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述步骤(2)中，SPR器件置于一个工作在特定波长上的直流光激光器的谐振腔内，且所述该直流光激光器的泵浦条件控制在阈值附近。

4.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述步骤(4)中，SPR器件的响应通过观测激光器输出光的功率等的变化得到。

5.一种高灵敏度表面等离子共振的测量系统，包括泵浦源、增益介质、窄带滤波器、光腔、SPR器件、偏振控制器件、和用于测量输出光强度的测量设备。

6.根据权利要求5所述的测量系统，其特征在于，该测量系统中的激光腔可为单向环形腔或驻波谐振激光腔。

7.根据权利要求5所述的测量系统，其特征在于，所述泵浦源的输出可调节，泵浦源可为泵浦光源、电流源、电压源等。

8.根据权利要求5所述的测量系统，其特征在于，所述增益介质为掺杂稀土光纤或者由掺杂稀土光纤、半导体激光放大器、固体激光晶体。

9.根据权利要求5所述的测量系统，其特征在于，所述窄带滤波器为光栅型滤波器、薄膜干涉型滤波器、光栅滤波器或由其它元件的波长选择效应实现。

10.根据权利要求5所述的测量系统，其特征在于，所述检测设备可为PIN光电检测器、APD光电检测器或光功率计。