[发明专利]一种空间反射型光学遥感器主镜面形畸变探测方法及系统

权利要求书

1.一种空间反射型光学遥感器主镜面形畸变探测系统，其特征在于，该系统包括：主镜、次镜、固定于空间反射型光学遥感器上的点光源装置、分光板、至少一个采样镜以及光电探测装置，所述主镜为凹面镜，中间设有通光孔，所述采样镜与主镜镜面刚性连接，其中，

点光源装置，用于产生球面光波，并使产生的光通过分光板射到次镜上；

次镜，用于将点光源装置发射来的光反射到与主镜镜面刚性连接的采样镜上，并反射采样镜反射回来的光，使光通过分光板照射到探测装置上；

采样镜，用于将由次镜反射来的光再次反射到次镜上；

探测装置，用于同时探测主镜面形发生畸变前后，点光源装置产生的光依次通过分光板、次镜、各个采样镜、次镜及分光板反射到探测装置上所形成的各个光斑的质心位置。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述采样镜采用胶粘、嵌入或嵌入加胶的方式与主镜的镜面刚性连接。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述采样镜在主镜镜面的排布密度及排布位置根据主镜的尺寸和需要测量的主镜面形变化的最高空间频率确定，且各采样镜之间的间距满足尼奎斯特Nyquist采样定理。

4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述采样镜的反射表面为斜平面或斜球面，且采样镜的法线方向与主镜镜面的当地法线方向不同。

5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述点光源装置产生的是单色光波，所述采样镜的反射表面镀有相应于所述单色光波的窄带高反膜。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的系统，其特征在于，所述点光源装置为激光器和会聚透镜，或为光纤光源。

7.根据权利要求1至5中任一项所述的系统，其特征在于，所述探测装置为电荷耦合器件CCD二维阵列探测器，或为CCD二维阵列探测器和会聚透镜。

8.根据权利要求1至5中任一项所述的系统，其特征在于，所述探测装置为除CCD二维阵列探测器以外的其他二维阵列探测器，或为除CCD二维阵列探测器以外的其他二维阵列探测器和会聚透镜。

9.一种空间反射型光学遥感器主镜面形畸变探测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

A、利用探测装置测量空间反射型光学遥感器主镜面未发生畸变时，由点光源装置发出的光依次通过分光板、次镜、各个采样镜、次镜及分光板反射到探测装置上的各个光斑的质心位置；

B、利用探测装置测量空间反射型光学遥感器主镜面形发生变化后，由点光源装置发出的光依次通过分光板、次镜、各个采样镜、次镜及分光板反射到探测装置上的各个光斑的质心位置；

C、根据步骤A和B获得的各个光斑质心位置，计算主镜镜面面形变化前后探测装置上各个光斑的质心位置偏差量；

D、根据步骤C获得的偏差量，得到主镜在各个采样镜处的局部斜率变化；

E、根据得到主镜在各个采样镜处的局部斜率变化，得出主镜面形畸变的空间分布。