[发明专利]表面改性的羟基磷灰石晶须及其制备方法和应用无效

专利信息
申请号: 200810058678.X 申请日: 2008-07-14
公开(公告)号: CN101327167A 公开(公告)日: 2008-12-24
发明(设计)人: 陈庆华;张文云;高伟;袁艳波 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: A61K6/033 分类号: A61K6/033
代理公司: 昆明今威专利代理有限公司 代理人: 赛晓刚
地址: 650093云南省昆明市*** 国省代码: 云南;53
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摘要:
搜索关键词: 表面 改性 羟基 磷灰石 及其 制备 方法 应用
【权利要求书】:

1.一种表面改性羟基磷灰石晶须在制备牙科聚合物基填充、修复材料中的应用,其特征在于:加入聚合物基体中,并加入硅烷偶联剂,用热固化或光固化的方法制得牙科修复填充材料,直接或间接用于牙齿龋洞的修复;

所述羟基磷灰石晶须长度为5~150μm,直径为0.1~5μm,长径比为10~150,晶须表面包覆有Si-O网络,其硅含量为晶须总质量的1wt%~40wt%;

表面改性羟基磷灰石晶须的制备方法为:首先制备羟基磷灰石晶须,之后在晶须的乙醇悬浮液中加入正硅酸乙酯,并加入水使其水解,使晶须表面包覆Si-0网络,之后根据需要利用含氟化合物在晶须中引入或不引入F-离子;

所述含氟化合物选自:氢氟酸、氟化钙、氟化钠、氟硅酸、氟硅酸钠,改性后晶须应满足有效氟含量为晶须总质量的0.001wt%~1wt%;

所述的正硅酸乙酯,在乙醇溶液中的浓度范围为0.1wt%~50wt%,

其改性后晶须加入的质量为填充物总质量的10wt%~80wt%。

2.根据权利要求1所述的表面改性羟基磷灰石晶须在制备牙科聚合物基填充、修复材料中的应用,其特征在于:所述聚合物为双酚A-甲基丙烯酸缩水甘油酯树脂,二甲基丙烯酸氨基甲酸乙酯类树脂,三乙二醇二甲基丙烯酸酯按不同比例混合形成的聚合物,晶须加入的质量应为填充物总质量的10wt%~80wt%。

3.根据权利要求1或2所述的表面改性羟基磷灰石晶须在制备牙科聚合物基填充、修复材料中的应用,其特征是,改性后晶须加入的质量为填充物总质量的50wt%~70wt%。 

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