[发明专利]高饱和磁通密度低损耗软磁铁氧体材料及制备方法有效
申请号: | 200810059171.6 | 申请日: | 2008-01-16 |
公开(公告)号: | CN101483092A | 公开(公告)日: | 2009-07-15 |
发明(设计)人: | 颜冲;吕东华;雷国莉;包大新 | 申请(专利权)人: | 横店集团东磁股份有限公司 |
主分类号: | H01F1/34 | 分类号: | H01F1/34;C04B35/26;C04B35/622 |
代理公司: | 杭州杭诚专利事务所有限公司 | 代理人: | 尉伟敏 |
地址: | 322118浙江省东阳*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 饱和 密度 损耗 磁铁 材料 制备 方法 | ||
1.一种高饱和磁通密度低损耗软磁铁氧体材料的制备方法,其步骤包括:
A、原材料进行湿式混合,然后预烧;
B、加入添加剂,湿式砂磨,得到铁氧体料浆,然后喷雾造粒;
C、把成型体在控制氧分压的条件下从1000℃升温至保温温度,升温速率为4~7℃/分钟,所述氧分压浓度为0.005%~1%;
D、在保温温度下保温0.5小时~11小时,
其中,所述的高饱和磁通密度低损耗软磁铁氧体材料,其组份为按Fe2O3、MnO、ZnO总量计算的含有53.4~54.6mol%的Fe2O3、2~9mol%的ZnO和37.6~43.4mol%的MnO,并且含有以下的副成分:
按SiO2计算的含量为150~200ppm的SiO2,
按CaCO3计算的含量为600~1200ppm的CaCO3,
按ZrO2计算的含量为150~250ppm的ZrO2,
按Nb2O5计算的含量为150~200ppm的Nb2O5,
按Na2O计算的含量为100~200ppm的Na2O,
以上副成分的含量为相对于Fe2O3、MnO、ZnO的总量以重量百分比计算。
2.根据权利要求1所述的高饱和磁通密度低损耗软磁铁氧体材料的制备方法,其特征在于:所述的C步骤与D步骤中,保温温度为1250℃~1350℃。
3.根据权利要求1所述的高饱和磁通密度低损耗软磁铁氧体材料的制备方法,其特征在于:所述的D步骤中,保温时的氧分压浓度为1%~8%。
4.根据权利要求1所述的高饱和磁通密度低损耗软磁铁氧体材料的制备方法,其特征在于:制得的高饱和磁通密度低损耗软磁铁氧体材料在100℃下的饱和磁通密度在440mT以上,损耗在350kW/m3以下。
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